K. Bang Bernhard Sell S. An J. Armstrong D. Bahr B. Bains Rohan Bambery K. Bang D. Basu S. Bendapudi D. Bergstrom R. Bhandavat S. Bhowmick M. Buehler D. Caselli S. Cekli Vrsk. Chaganti Y. J. Chang K. Chikkadi T. Chu T. Crimmins G. Darby C. Ege P. Elfick Tyler Elko-Hansen S. Fang C. Gaddam M. Ghoneim H. Gomez S. Govindaraju Z. Guo Walid M. Hafez M. Haran M. Hattendorf S. Hu A. Jain S. Jaloviar M. Jang J. Kameswaran V. Kapinus A. Kennedy S. Klopcic D. Krishnan J. Leib Y.-T. Lin N. Lindert G. Liu O. Loh Y. Luo S. Mani M. Mleczko S. Mocherla P. Packan M. Paik A. Paliwal R. Pandey K. Patankar L. Pipes P. Plekhanov Chetan Prasad M. Prince G. Ramalingam R. Ramaswamy J. Riley J. R. Sanchez Perez Justin Sandford A. Sathe Faisal Ahmed Shah H. Shim S. Subramanian S. Tandon M. Tanniru D. Thakurta T. Troeger X. Wang C. Ward A. Welsh S. Wickramaratne J. Wnuk S. Q. Xu P. Yashar J. Yaung K. Yoon N. Young 282-283 2022 VLSI Technology and Circuits https://doi.org/10.1109/VLSITechnologyandCir46769.2022.9830194 conf/vlsit/2022 db/conf/vlsit/vlsit2022.html#SellAABBBBBBBBB22 S. An J. Armstrong D. Bahr B. Bains Rohan Bambery D. Basu S. Bendapudi D. Bergstrom R. Bhandavat S. Bhowmick M. Buehler D. Caselli S. Cekli Vrsk. Chaganti Y. J. Chang K. Chikkadi T. Chu T. Crimmins G. Darby C. Ege P. Elfick Tyler Elko-Hansen S. Fang C. Gaddam M. Ghoneim H. Gomez S. Govindaraju Z. Guo Walid M. Hafez M. Haran M. Hattendorf S. Hu A. Jain S. Jaloviar M. Jang J. Kameswaran V. Kapinus A. Kennedy S. Klopcic D. Krishnan J. Leib Y.-T. Lin N. Lindert G. Liu O. Loh Y. Luo S. Mani M. Mleczko S. Mocherla P. Packan M. Paik A. Paliwal R. Pandey K. Patankar J. R. Sanchez Perez L. Pipes P. Plekhanov Chetan Prasad M. Prince G. Ramalingam R. Ramaswamy J. Riley Justin Sandford A. Sathe Bernhard Sell Faisal Ahmed Shah H. Shim S. Subramanian S. Tandon M. Tanniru D. Thakurta T. Troeger X. Wang C. Ward A. Welsh S. Wickramaratne J. Wnuk S. Q. Xu P. Yashar J. Yaung K. Yoon N. Young