C#Halcon光度立体法缺陷检测

      光度立体法可以根据二维纹理信息提取出三维模型。photometric_stereo算子至少需要三张图，这些图是在相机和物体相对位置不变条件下，通过不同方向打光获取的。物体的三维模型主要是根据三维表面的局部梯度计算提取的。三维表面的局部梯度信息可以进一步整合获得高度信息图，灰度值与高度值一一对应。二维纹理被称为反照率，它对应于物体表面局部光吸收和反射特性，被遮挡的部分没有此特性。

      光度立体法的典型应用是检测物体表面微小变化，例如，受打光方向影响的缺陷。

      光度立体法基于Woodham算法。其原理是假定相机是无畸变成像，光束都是平行且均匀的，物体具有朗伯反射特性。可以用远心镜头/长焦镜头，均匀强度的远心照明光源/点光。

     有镜面反射的物体或者区域（镜子或者光滑的表面）不能使用此方法，会得到一个错误的结果。

Demo效果

UI布局

关键算子

1，应用未校准的光度学立体以检索每个像素的局部方向。

  1.1，uncalibrated_photometric_stereo

  1.2， photometric_stereo

2，使用梯度场作为算子derivate_vector_field的输入来计算表面的高斯曲率。在曲率图像中通常很容易检测到缺陷。

更多原理

缺陷检测之光度立体法