2401_82550753的博客

原创 memtest86 site v10.x

利用memtest86 pro v10.x版本去解析log文件，获得报错颗粒定位信息。支持U盘或者PXE启动的site版本mt86。官网链接看看，太贵了买不起买不起！

原创 DRAM内存测试算法汇总以及部分算法的代码剖析。SSD FTL固件算法汇总以及部分算法代码剖析。

原创 MrcMemoryAddressDecode函数流程窥见一斑

原创 UEFI开发工程师的必备查阅手册

UEFI BIOS&APP编程开发查询手册.pdf。

原创 [DRAM Test]DRAM内存测试、内存故障定位、内存维修工具大汇总

目录1、《HCI MemTest, RunMemtestPro》2、《MEMTEST64》3、AIDA64稳定性测试4、《MEMTEST86》与《MEMTEST86+》5、Windows Memory Diagnostic Tool(微软内存诊断工具)6、《RAM STRESS TEST》7、《AMT64和AMT128》8、《DocMemory》9、《RAMFIX V110516B》10、《Smart RAM Detect 1.1》11、《Memtest Jac

原创 [DRAM Memory Address Mapping] DRAM Memory Address Mapping(内存地址映射)

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原创 [DRAM Memory Address Mapping] DRAM Burst Mode and Bank Interleaving(Burst模式和Bank交错)

[DRAM Memory Address Mapping] DRAM Burst Mode and Bank Interleaving(Burst模式和Bank交错)

原创 [DRAM Memory Address Mapping] DRAM Module Organisation(DIMM模组结构)

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原创 [DRAM Memory Address Mapping]Multiplexers and Demultiplexers(选通器与分配器)

DRAM Memory Address Mapping

原创 [DRAM Memory Address Mapping]Binary Decoders(二进制解码器)

DRAM Memory Address Mapping

原创 [DRAM Memory Address Mapping]The Read and Write Cycles(读写循环)

DRAM Memory Address Mapping

原创 [DRAM Memory Address Mapping]Memory Cell Arrays(内存存储单元阵列)

DRAM Memory Address Mapping

原创 半导体集成电路与先进光刻制造工艺技术图书大汇总

光刻巨人：ASML崛起之路》是一本人民邮电出版社出版的图书，作者是[荷兰]瑞尼·雷吉梅克。《光刻巨人：ASML崛起之路》中，作者瑞尼·雷吉梅克带我们重返了晶圆步进光刻机的诞生地，和我们一起探索了ASML在全球获得令人瞩目的成功之根源所在。《纳米集成电路制造工艺（第2版）》是2017年清华大学出版社出版的书籍，作者是张汝京等。《超大规模集成电路先进光刻理论与应用》是2016年5月科学出版社出版的图书，作者韦亚一。《光刻巨人ASML崛起之路 》《衍射极限附近的光刻工艺》《专注:ASML之道》

原创 内存FA分析

DDR4 UDIMM, DDR4 SODIMM, DDR4 ECC DIMM, 不开机不良品内存条的故障分析和异常内存晶片定位。​DDR5 UDIMM, DDR5 SODIMM,DDR5 ECC DIMM 不开机不良品内存条的故障分析和异常内存晶片的定位。​DDR5 RDIMM, DDR5 LRDIMM,DDR5 3DSRDIMM可不开机不良品内存条的故障分析和异常内存晶片的定位。DDR4 UDIMM, DDR4 SODIMM, DDR4 ECC DIMM, 可开机不良品内存条的故障内存晶片定位。

原创 UEFI开发编程实践4------SMBIOS信息的获取

UEFI开发编程实践4------SMBIOS信息的获取。UEFI开发编程实践4------SMBIOS信息的获取。UEFI开发编程实践4------SMBIOS信息的获取。

原创 针对罗冰的《UEFI编程实践》的补充------UEFI环境下，如何实现RISC-V平台的EFI程序开发

目前，市面上的RISC-V的电子产品，越来越多。应该增加一个章节第13章 RISC-V平台上开发UEFI程序

原创 针对罗冰的《UEFI编程实践》的补充------UEFI环境下，如何获取USB设备的信息，比如U盘，并实现U盘和应用程序的绑定

UEFI APP的执行一般是：1、选择进入BIOS界面，选择U盘启动；2、F10, 选择SAVE， 重启电脑；3、电脑进入UEFI APP。通常情况下，我们不需要知道启动U盘的具体信息，但是，如果开发者想保护自己的UEFI APP不被非法盗窃，开发者可以选择将自己的U盘里面的app.efi 程序和U盘的特定信息进行绑定。比如：U盘的主控芯片的UUID、PN、SN、生产如期、生产商、出厂日期，等等。文章的第九章，可以增加这方面的实践案例。

原创 针对罗冰的《UEFI编程实践》的补充------UEFI环境下，如何通过SMBUS访问SPD？

1、UEFI环境下，如何通过SMBUS访问SPD？2、INTEL平台下的如何获取DDR4内存条的SPD？3、INTEL平台下的如何获取DDR5内存条的SPD？4、AMD平台下的如何获取DDR4内存条的SPD？5、AMD平台下的如何获取DDR5内存条的SPD？6、获取到512字节的DDR4 SPD或者1024字节的DDR5 SPD后，如何解析？如何根据SPD信息计算内存条的容量、SN、PN、RANK、生产商、内存颗粒信息等等。这本书的第七章，应该分别就这些问题给出对应的实践案例。

原创 针对罗冰的《UEFI编程实践》的补充------图形界面的动画特效

针对有图形界面GUI的UEFI APP，一般会有入场动画，好比我们手机的开机动画。在这第五章，应该加一些这方面的案例说明。

原创 针对罗冰的《UEFI编程实践》的补充------多语言文字的显示和自由切换

针对第四章的汉字显示，我觉得应该扩展到其他的语言文字。使得用户可以在使用我们的UEFI APP的时候，可以自由切换不同的语言文字。

原创 UEFI开发编程实践3---------截图的实现

UEFI开发编程实践3---------截图的实现

原创 UEFI开发编程实践 2---------提示弹窗的实现

UEFI开发编程实践 2---------提示弹窗的实现

原创 针对戴正华的《UEFI原理与编程》的补充------UEFI环境下，如何实现ARM64平台下的多线程开发

1、如何实现PXE启动；2、如何实现IPV4的网络字节串的传输；3、如何实现IPV4的文件的网络传输：从服务器到客户端，从客户端到服务器。

原创 针对戴正华的《UEFI原理与编程》的补充------UEFI环境下，如何实现ARM64平台下的多线程开发

X86平台下的多任务开发已经有很多案例了，ARM64平台下的多任务多线程开发，目前没有参考案例，可以在第13章，增加ARM64 和 RISC-V平台下的UEFI APP的多线程开发案例。

原创 针对戴正华的《UEFI原理与编程》的补充------UEFI环境下，如何实现app.efi程序对不同文件的不同路径报存

比如，程序产生的含有串口信息的uart123.log报存在EFI/BOOT/UART/路径下。程序产生的截图保存在EFI/BOOT/BMP/路径下。程序启动所需的配置文件放在EFI/BOOT/SETTINGS/路径下。

原创 APP.EFI开发编程实践 – ACPI Table探究----01（UEFI配置表）

程序通过RSDP->XSDT->FADT->DSDT这样的顺序，找到DSDT表，并把关心的一些信息打印出来。

原创 基于MemTest86 Pro V10.x的坏损内存颗粒定位工具

基于MemTest86 V10.X的报错内存条的坏损颗粒定位工具！​DDR4 DDR5都可以！

原创 memtest86 site v10.4

passmark官方的memtest86 v10开始支持颗粒级别的坏内存芯片定位了，对于特定的若干种CPU和芯片组的组合，支持这项功能。\n\n当然支持颗粒定位的site版本售价4800美金，是比较贵的。所以网络上出现了破解版的，人才真是。但是鼓励大家支持正版，不要助长这种歪风邪气！\n\n \n\n内存测试和修复工程人员的福音！

原创 海量专业类的pdf电子书大合集

感兴趣的私聊！

原创 UEFI编程实践pdf电子书

找了好久，终于找到了！

原创 ddr内存测试软件开发行业多年

总结出来的精华资料合集。

原创 BMS电池管理系统工程师视频课程

4-ISO26262功能安全标准（新版）；2-控制策略开发与MATLAB应用；3-AUTOSAR汽车开放系统架构；8-电池管理系统设计及实现技术；6-电池建模及状态估计算法；1-新能源汽车结构与原理；7-动力电池热管理技术；9-动力电池测试与验证；岗位招聘的市场需求非常。

原创 DDR5的On Die ECC

ECC，全称是Error Correction Code，也就是用于检查并且纠正错误的一个机制。这对于数据安全和高可靠的应用来说非常重要。ECC内存系统可以检查并且纠正出单bit的内存错误，而对于多比特的内存错误，取决于多比特的数量和ECC的算法，有可能会被纠正，也有可能只是被检测出来。接下来我们介绍一个典型的内存错误。边带ECC：边带ECC在CPU的内存控制器上实现了ECC的产生和验证逻辑，在内存总线上需要额外的bit，在内存条上需要额外的DRAM芯片储存ECC编码。

原创 内存交织（Memory Interleaving）

Interleaving在细节方面还有很多的算法可以考虑，这篇文章中介绍了引入interleave 机制的两个主要原因，并且介绍了不同的插法带来的interleave group的变化，进一步得出内存插法的建议，以避免非平衡插法对性能带来的影响。在内存通道的interleaving中会有interleave group的形成，而在一个interleave group中会首先检查同样容量，同样rank数目的最大内存通道数，这个最大通道数的区域会组成一个interleave group。

原创 默默整理一下自己从业内存行业多年的资料

原创 UEFI与EDKII源代码分析

作为UEFI BIOS行业的非常重要的参考书籍，你值得拥有！