STM32+HAL库ADC采样（采用内部基准电压）

### 使用STM32 HAL库实现ADC多通道电压采集 为了通过STM32 HAL库实现多个ADC通道的同时采样，配置过程涉及初始化ADC模块、设置所需的参数以及利用DMA传输数据。下面提供了一个完整的示例来展示如何执行这些操作。 #### 初始化ADC并启用DMA模式 在`MX_ADC1_Init()`函数内定义好ADC的相关属性之后，在主函数中进一步设定DMA请求映射到特定的中断事件，并指定要读取的数据缓冲区地址和长度： ```c /* 定义全局变量用于存储ADC结果 */ #define BUFFER_SIZE 8 // 假设有两个通道，则需两倍空间保存每轮的结果 uint16_t AdcConvertedValues[BUFFER_SIZE]; // 配置ADC通道列表 static void MX_ADC1_Init(void){ ... hadc1.Init.ScanConvMode = ENABLE; hadc1.ChannelConf[0].Channel = ADC_CHANNEL_4; // Channel 4 hadc1.ChannelConf[0].Rank = 1; hadc1.ChannelConf[0].SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_7CYCLES_5; hadc1.ChannelConf[1].Channel = ADC_CHANNEL_5; // Channel 5 hadc1.ChannelConf[1].Rank = 2; hadc1.ChannelConf[1].SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_7CYCLES_5; if (HAL_ADC_Init(&hadc1) != HAL_OK) { Error_Handler(); } } ``` 上述代码片段展示了如何为ADC配置扫描模式（允许连续处理多个输入），并将两个不同的模拟信号源连接至相应的硬件引脚上[^1]。 #### 启动ADC转换并与DMA关联 一旦完成了必要的初始化工作，就可以调用`HAL_ADC_Start_DMA()`方法开始实际的数据收集流程了。此命令会触发一次性的批量读数动作，并自动把获得的信息传送到预先分配好的内存区域里去： ```c if (HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1, (uint32_t*)AdcConvertedValues, BUFFER_SIZE / sizeof(uint16_t)) != HAL_OK) { Error_Handler(); } while (1) { // 主循环体可放置其他任务逻辑... } ``` 这里需要注意的是，当采用DMA方式进行大批量快速传输时，必须确保所选定时器间隔足够长以便让整个序列顺利完成；否则可能导致未完成的任务堆积甚至系统崩溃等问题发生。 #### 处理接收到的数据 最后一步是在适当的地方加入回调机制，用来响应已完成的DMA事务。这可以通过覆盖默认行为或者注册自定义处理器的方式来达成目的。每当一批新的测量值被成功接收后，就会触发对应的事件句柄来进行后续分析或可视化呈现等工作： ```c void HAL_ADC_ConvHalfCpltCallback(ADC_HandleTypeDef *hadc) { // 当一半数量的样本已被传送完毕时调用该函数 } void HAL_ADC_ConvCpltCallback(ADC_HandleTypeDef *hadc) { // 所有预定数目内的样本均已经过DMA搬运过来以后才会到达此处 for(int i=0;i<BUFFER_SIZE/sizeof(uint16_t);i++){ float voltage = ((float)(AdcConvertedValues[i]) * 3.3f)/4096.0f; printf("Channel %d Voltage Value:%.4fV\r\n", i+1,voltage); } } ``` 以上就是基于STM32 HAL库构建一个多路同步采样的简单实例说明[^3]。