详解CRC校验码生成多项式的“四大条件”

0. 前言

CRC（Cyclic Redundancy Check，循环冗余校验），是一种数字编码技术，广泛应用于数字通信的传输差错检测，或数字存储的数据完整性检测，最早由W. Wesley Peterson于1961年发表的论文《Cyclic Codes for Error Detection》中提出。

这个数字时代，CRC无处不在！每当你发一条微信、刷一个视频、开一个网页……，几乎都有着这个诞生于六十多年前的技术的默默守护！对于大多数嵌入式软件工程师、FPGA逻辑工程师，一个稍显夸张的说法：咱们不是在用，就是在学CRC，或者在路上。

众所周知，CRC校验码需要预先确定一个生成多项式G(x)，其（差错检测）性能几乎全由这个G(x)决定。老话又说了，不是每个多项式都适合作CRC的G(x)，简中网（博文）数十年的沉淀，给这个G(x)定下了四个条件（不要纠结是否和你曾经看到的一字不差）：

1. 最高位和最低位必须为1；
2. 当CRC校验码任何一位发生错误时，被生成多项式模2除后余数应不为0；
3. 不同位发生错误时，模2除运算后余数不同；
4. 对不为0的余数继续进行模2除运算，应使余数循环。

网络博文，靠不靠谱哦？刚开始我也有这个疑问，后来发现还真有出处：2、3、4三个说法能在某本1994年出版的《计算机组成原理》中看到，2008年出版的另一本列为了三个条件，2021年出版的某本列为了四个条件。

既然这“四大条件”被写进了数本《计算机组成原理》教材，自当好好学习研究一下，于是有了此文。（备注：文中公式较多，当您读着不顺畅时，不妨刷新试试！）

1. CRC校验到底是干嘛用的？

CRC校验码的发明者Peterson教授将论文取名为“Cyclic Codes for Error Detection——用于差错检测的循环码” ，后来人们称为Cyclic Redundancy Check。看来，作为二进制分组码的CRC，当它的最小汉明距离 ≥3 时，虽然在理论上具备至少一个比特的纠错能力，但人们在数字通信或存储的工程实施时，更倾向于选择应用它强大的差错检测能力，即用来检错的。

2. 条件是拿来干嘛的？怎么满足？

CRC校验的差错检测性能几乎全由其生成多项式G(x)决定，既然是G(x)需要满足的条件，自然是用来在新规范设计时确保达到某个性能，或分析理解已有规范的G(x)能提供什么样的性能。

这些条件到底怎么满足？博文和相关教材统一套路：从天而降4个条件，然后一个或大或小的表格列一些国际规范的多项式。2008年出版的那本教材倒是说了一句：“达到上述要求的数学关系比较复杂，读者若有兴趣可查阅有关资料。”

那么问题来了，给出4个条件，不告诉读者（学生）怎么根据条件筛选或确定CRC的生成多项式；或者给出一个现成的多项式表格，又不告诉读者（学生）怎么鉴别这些多项式是否满足条件。嗯，表格摘录的是国际规范的多项式，都满足条件的，不用分析。一定满足吗？

不能用、不会用、不需要用，那你告诉我4个条件干什么，背下来考试吗？

3. 这“四大条件”到底说了个啥？

文章到这里，怎么感觉前面写的全是废话，这要不给这“四大条件”说出个子丑寅卯来，怕是要被读者的口水淹死！那我们就来逐个分析什么样的多项式满足这些条件，满足这些条件能获得什么样的差错检测性能。

3.1 最高位和最低位必须为1

我们常用的CRC校验码属于二进制分组码，处理的是二进制信息，最小的信息单元是一个二进制比特位，有且只有0或1两个状态。当采用\( k \)个二进制比特位按照规定的顺序排列，即可构成一个\( k \)位的二进制序列，或称为二进制码字\( C=(c_{k-1},c_{k-2}, \cdots ,c_1,c_0) \)，可表示\( 2^k \)种状态。

在编码理论中，为了更好地采用代数工具研究二进制编码，人们普遍采用GF(2)有限域的多项式（以下简称多项式）来描述二进制码字，即将码字\( C=(c_{k-1},c_{k-2}, \cdots ,c_1,c_0) \)的比特位写作码多项式\( C(x)= c_{k-1} x^{k-1} + c_{k-2}x^{k-2} + \cdots + c_1x^1 + c_0x^0 \)的系数，\( C(x) \)中的自变量\( x \)通常用作占位元，一般没有具体含义。

多项式\( C(x) \)的所有非零系数中，最高幂次称为它的次数，记为deg(c)。在一个多项式的非零最高次项前面，无论我们再写多少幂次更高但系数为零的项，都不影响该多项式参与运算的结果，而这样写下去，有无穷多个运算性质相同的多项式，只会造成沟通不畅（或定义混淆），于是，人们就给多项式规定了一个次数，因此，多项式的次数是一个定义，是它的固有属性。

\( C(x) \)的常数项（或称为零次项）也是它的一个重要项，常用于表征某多项式是否是非零多项式：即\( C(0)=0 \)，则\( C(x) \)的常数项系数\( c_0=0 \)；或\( C(0) \neq 0 \)，则\( C(x) \)的常数项系数\( c_0 \neq 0 \) 。

人们在描述或介绍某个规范的CRC校验码时，最顶层（宏观）的描述是：CRC-r，POL=0b1x⋯x1 ，其中，POL规定了选用的生成多项式，\( r \)则规定了校验位的长度和生成多项式的次数。CRC校验码生成多项式的最低条件是：最高位和最低位必须是1。于是，我们可据此写出POL对应的多项式G(x)：

\[ G(x)=x^r + g_{r-1}x^{r-1} + \cdots + g_1x^1 + 1 \]

严格意义来说，CRC校验码生成多项式的最低条件应描述为：次数 ≥ 1，且常数项为1的多项式。这也是实际通讯规范选用的生成多项式都满足的基本条件。为什么要这么规定？（扩展阅读\( ^{[4]} \)：详解CRC校验码生成多项式的最高位和最低位必须是1）。

满足这个条件，具备什么样的差错检测性能？答案：在任意码字长度范围内，检测所有的单比特错误。即，不管含校验码的码字有多长，只要该码字中有且只有1个比特的错误，也不管这个错误比特位于码字中的哪个位置，都能检测出此错误。对CRC校验码而言，意味着这个有且只有单比特错误的码字除以生成多项式的余式不为0！

这个结论怎么证明？\( ^{[1]} \)请见Peterson教授论文第3页定理1（友情提示：该定理限定的生成多项式条件都不需要常数项为1，仅需要生成多项式的非零项数目（即汉明重量）大于等于2，而且证明过程是显然成立。）：

3.2 任何一位发生错误则余数不为0

本条件虽然是用于约束CRC校验码生成多项式的筛选原则，但并未直接描述多项式，而是描述生成码字集合的差错检测性能，要求选用的生成多项式应确保本性能指标。

教材或相关文章通常会用比较精炼的语言描述，本文反其道而行之，看看本条件具体规定了什么样的差错检测性能：

在任意码字长度范围内，检测所有的单比特错误。即，不管含校验码的码字有多长，只要该码字中有且只有1个比特的错误，也不管这个错误比特位于码字中的哪个位置，都能检测出此错误。对CRC校验码而言，意味着这个有且只有单比特错误的码字除以生成多项式的余式不为0！

等等，你莫不是在逗我，你咋把上一节满足最低位和最高位为1的多项式的检错性能给抄在了这里？我也没办法，事实就是这么个事实，满足条件1的多项式，天然满足条件2，条件2把条件1的结果当作条件又提了一次！

3.3 不同位发生错误的余数不同

本条件描述的是双比特错误的检错能力，或单比特错误的纠错能力。一个长度为\( n \)的码字中，发生在不同位置\( i,j(i \neq j,0 \leqslant i,j \leqslant n-1) \)的两个独立错误，其错误图样可分别用多项式\( E^{(i)} (x) = x^i \)和\( E^{(j)} (x) = x^j \)表示，它们对生成多项式G(x)求余的余式\( R^{(i)} (x)  \)、\( R^{(j)} (x)  \)分别为：

\[ \begin{aligned}
R^{(i)} (x) & \equiv x^i \: \mathrm{mod} \: G(x) \\
R^{(j)} (x) & \equiv x^j \: \mathrm{mod} \: G(x)
\end{aligned} \]

本条件要求\( R^{(i)} (x) \neq R^{(j)} (x) \)。由于CRC校验码的多项式运算定义于GF(2)有限域，其运算法则是模二算术，即模二加等于模二减，所以：

\[ R^{(i)} (x) - R^{(j)} (x) = R^{(i)} (x) + R^{(j)} (x) \neq 0 \]

又，两多项式之和对G(x)的余式等于它们分别对G(x)的余式之和，即：

\[ [(x^i+x^j) \: \mathrm{mod} \: G(x)] = R^{(i)} (x) + R^{(j)} (x) \neq 0 \]

上式表明，长为\( n \)的码字中，有且只有两个独立比特的差错时，CRC校验可检测出该错误。显然，该码字集合的最小汉明距离 ≥3，可用来检测两个独立比特的错误，或用来纠正一个单比特错误。这个性能看起来相当不错，那我们选用的生成多项式需要满足什么条件呢？

由于是发生在\( i,j(i \neq j,0 \leqslant i,j \leqslant n-1 ) \)的两个不同位置的独立差错，我们可任意假定\( j > i \)，并设\( j - i = m \)，则错误图样可用多项式\( E(x) = x^i+x^j = x^i(x^{j-i} + 1) = x^i(x^{m} + 1) \)表示，由\( i,j \)的约束关系可得：\( 0 < m \leqslant n-1 \) ，从而，我们得到CRC校验码检测双比特错误的条件：生成多项式不能整除\( x^{m}+1 \) 。

到了这里，不得不再次引入有限域多项式的另一个固有属性（或者说定义）：多项式的周期。见文献[2]第121~122页：

读者（包括笔者本人）暂时不了解有限域多项式的周期也没关系，我们只需记住CRC校验码的生成多项式：

• 都有周期，是固有属性\( ^{[2][3]} \)；
• 周期是可以求解（有工具软件）的；
• 选定非零多项式次数\( r \)后，周期\( e \)的大小不会超过\( 2^{r}-1 \)，即\( e \leqslant 2^r - 1 \) 。

从而，CRC校验码生成多项式与双比特差错检测的关系就出来了：

• 当码字长度\( n \)小于等于生成多项式周期\( e \)时，一定能检测出该码字中任意的双比特错误，即整个码字集合的最小汉明距离 ≥3，理论上可纠正一个单比特错误，至于用不用于纠错，就看使用者怎么考虑了；
• 当码字长度\( n \)大于生成多项式周期\( e \)时，存在不能检测的双比特错误情况，即整个码字集合的最小汉明距离 ≥2。

因此，对于条件3而言，设计时的筛选或应用时的分析，都是解决生成多项式周期与码字长度间的权衡。这在校验位长度较短时，尤其应当引起足够的重视，例如，8位以下的CRC校验码，周期最大也不会超过255，两个经典的8位CRC生成多项式：CRC-8/ITU，\( G(x) = x^8 + x^2 + x + 1 \)；CRC-8/MAXIM，\( G(x) = x^8 + x^5 + x^4 + 1 \)，它们的周期都是127，意味着信息位长度一旦超过119，则码字长度将超过127，将会出现部分双比特错误漏检的情况。CRC-8/SAE J1850的\( G(x) = x^8 + x^4 + x^3 + x^2 + 1 \)，周期是255。

单从周期来看，似乎CRC-8/SAE J1850的性能优于CRC-8/ITU和CRC-8/MAXIM？不是的，分析CRC校验码的检错性能时，不能孤立的比较多项式周期大小，一定要结合码字长度和多项式的其它特性综合考虑：

• CRC-8/SAE J1850的多项式是本原多项式，具有8次多项式可能最大的周期255，但它没有检测“所有奇数个错误比特”的能力；
• CRC-8/ITU和CRC-8/MAXIM的多项式周期是127，但它们都能检测“所有奇数个错误比特”，也就是说，在码字长度 ≤127时，CRC-8/ITU和CRC-8/MAXIM可检测所有的：单比特、双比特和三比特随机差错，码字集合的最小汉明距离是4，而一旦码字长度超过127时，最小汉明距离又会快速的退化为2；
• 由于SAE J1850数据链路层规定的消息帧格式中，由CRC保护的数据含校验位在内最大12字节（96-bits），小于127，所以，若SAE J1850选择CRC-8/ITU或CRC-8/MAXIM的生成多项式，可获得事实上更好的差错检测性能；
• MAXIM公司在其推出的温度传感器芯片DS18B20中首次选用CRC-8/MAXIM这个多项式，而由CRC保护的数据含校验位在内最大8字节（64-bits），小于127，所以DS18B20的CRC-8校验码设计可确保检测出传输中的所有：单比特、双比特和三比特随机差错，有着相当好的差错检测性能；
• SMB-BUS规范选用了CRC-8/ITU的多项式用作传输差错检测，但其数据链路层要求CRC校验保护的数据含校验位在内却可能高达260字节（2080-bits），这远远超过了8位CRC校验码的周期，意味着通讯传输中可能出现较大量的双比特随机差错漏检！若选用CRC-8/SAE J1850的多项式，能获得一定量的性能提升，但事实上应选择更高位数的CRC校验。

3.4 对不为0的余数继续作除会使余数循环

笔者第一次看到这个条件时，并没想明白它想表达个什么意思，直到学习了某几本教材和某个慕课视频后，终于明白：当CRC校验的接收码字中出现1个单比特错误，则该码字对生成多项式求余，自然会得到一个不为0的余式，将此余式左移1位并右侧补0，然后对生成多项式求余，继续……，如此循环，我们会惊喜的发现，经过一定循环次数后，会得到最初的那个余式。

这是为什么呢？这又涉及到有限域多项式求余的一个基本性质：

\[ \left [ x \cdot f(x) \right ] \: \mathrm{mod} \: G(x) = \left \{ x \left [ f(x) \: \mathrm{mod} \: G(x) \right ] \right \} \: \mathrm{mod} \: G(x) \]

本条件的“对不为0的余数左移补0循环求余”的数学描述是：假设原单比特错误\( x^i \)的余式是\( R^{(i)} (x) \) ，经\( j \)次左移补0循环求余后的余式是\( R^{(j)} (x) \) ，有：

\[\begin{aligned}
x^i \: \mathrm{mod} \: G(x) &= R^{(i)} (x) \\
x^j R^{(i)} (x) \: \mathrm{mod} \: G(x) &= R^{(j)} (x)
\end{aligned}\]

合并上式可得：

\[ x^{i+j} \: \mathrm{mod} \: G(x) = R^{(j)} (x) \]

本条件的要求是回到最初的余数，即\( R^{(j)} (x) = R^{(i)} (x) \)，也就是要求\( (x^i + x^{i+j}) \)对\( G(x) \)求余的余式为0：

\[ \begin{aligned}
(x^i + x^{i+j}) \: \mathrm{mod} \: G(x) &= 0 \\
\left [ x^i(x^j + 1) \right ] \: \mathrm{mod} \: G(x) &= 0
\end{aligned} \]

什么条件下上式能成立？\( (x^j + 1) \: \mathrm{mod} \: G(x) = 0 \)，或者说\( (x^j + 1) \)可被\( G(x) \)整除，眼不眼熟？这不就是多项式周期的定义嘛，也就是说，如果“对不为0的余数左移补0循环求余”，不但可以确定余式肯定会回到最初的那个余式（即循环），而且可以确定，需要也只需要生成多项式周期\(e\)次操作即可回到最初。

条件4不需要规定，它本身就是CRC校验码生成多项式固有周期的一个外在表现，或者说条件4是多项式周期的结果，只要你用CRC校验，条件4天然满足。

4. 总结

本文对简中网博文乃至某些教材上广泛提及的CRC校验码生成多项之“四大条件”进行了系统性分析，发现：

• 条件1，是必要的，同时也是众所周知的，所有现行通讯协议规范都遵照的。
• 条件2，是毫无意义的，是条件1的结果，满足条件1自然满足条件2。
• 条件3，是码字长度与生成多项式周期的权衡结果。较短（比如8位）的CRC校验位时，现行通讯协议规范不一定都满足。
• 条件4，都不能称其为条件，是CRC校验码生成多项式固有周期的外在表现，用CRC就天然满足。

既然简中网这“四大条件”不好用，那我们怎么评估CRC校验码生成多项式与其差错检测性能间的关系？笔者建议：

• 定性分析。仔细阅读掌握Peterson教授1961年的论文\( ^{[1]} \)，文中包含8条定理及其证明，可帮助我们评估生成多项式的：单比特、双比特、三比特、奇数比特等随机错误检测能力，不同长度的突发错误检测能力。为致敬Peterson教授，笔者在节选性翻译的基础上，辅以适当的二次创作，有了一篇博文\( ^{[5]} \)：CRC校验码的检错性能（一）—— 检出（或漏检）比例。
• 定量分析。所谓定量，即采用计算机穷举法枚举目标CRC校验码的全部码字集合，得到它的重量分布数据，从而可得到码字集合的最小汉明距离，或直接计算在给定信道误比特率下的差错漏检概率。建议参考Carnegie Mellon University，Philip Koopman教授的论文，尤其是他在个人网站上已经公布的，大量的多项式评估数据\( ^{[6]} \)。

5. 参考

1. W. W. Peterson and D. T. Brown, "Cyclic Codes for Error Detection," in Proceedings of the IRE, vol. 49, no. 1, pp. 228-235, Jan. 1961
2. 冯克勤. 纠错码的代数理论[M]. 北京: 清华大学出版社, 2005.
3. 鲖阳路人. 有限域上的多项式(1): 多项式的阶与本原多项式[EB/OL]. (2022-03-23).
4. innovationcjs. 详解CRC校验码生成多项式的最高位和最低位为什么必须是1[EB/OL]. (2025-04-23).
5. innovationcjs. CRC校验码的检错性能（一）—— 检出（或漏检）比例[EB/OL]. (2024-04-04).
6. Philip Koopman. Best CRC Polynomials[EB/OL]. Carnegie Mellon University.