18、数字全息技术中的噪声与聚焦控制

数字全息技术中的噪声与聚焦控制

1. 离轴外差数字全息的噪声极限

在离轴外差数字全息技术中，噪声是影响成像质量的重要因素。研究发现，由于全息检测的外差增益，CCD 相机的噪声可以忽略不计。通过合理安排全息设置，将离轴几何结构与外差全息的相移采集相结合，能够达到理论散粒噪声极限。

1.1 理论研究

理论上，这个极限对应于用于重建全息图像的整个帧序列中每个像素一个光电子。这种看似矛盾的结果与外差检测有关，其中检测带宽与测量时间成反比。

1.2 实验验证

实验验证了上述理论结果。实验表明，在非常低的信号水平下也能够对物体进行成像。此外，还可以通过蒙特卡罗噪声建模来模拟实验中获得的非常弱照明水平的全息图。

1.3 总结

这种技术在低信号水平成像方面具有很大的潜力，为相关领域的研究和应用提供了新的思路和方法。

2. 光学成像中的聚焦问题

光学成像中一个主要问题是有限的聚焦深度。所有光学系统都受到这一限制的影响，难以在单个图像平面上使位于不同距离但在同一视场内的物体都聚焦清晰。这在显微镜等光学系统中尤为明显，由于高放大倍数的要求，景深会被压缩。

2.1 传统解决方案及局限性

在传统光学显微镜中，扩展聚焦图像（EFI）是通过光学纵向机械扫描和在扫描过程中采集一系列图像（即“图像堆栈”）来构建的。在每个图像中选择聚焦部分，然后将它们拼接成一个单一的图像（即 EFI）。然而，数字化许多图像所需的长时间采集时间使其无法用于动态事件的分析。

2.2 新的解决方案

为了克服这个问题，