计算机图形学【MFC】基础

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第一章 导论

1.1 计算机图形学定义
　1.1.1 学科研究范畴
　1.1.2 图形生成与处理流程
1.2 图形分类
　1.2.1 基于线条的几何图形
　1.2.2 基于材质/纹理的真实感图形
1.3 图形表示方法
　1.3.1 参数法（数学模型与参数描述）
　1.3.2 点阵法（像素点阵与图像表示）
　1.3.3 参数法到点阵法的转换

第二章 MFC绘图基础

2.1 MFC上机操作
　2.1.1 MFC类库概述
　2.1.2 文档/视图结构
　　- CTestDoc类（数据存储）
　　- CTestView类（图形显示）
　2.1.3 OnDraw()函数与绘图流程
　2.1.4 纯虚函数与抽象类
2.2 MFC基本绘图函数
　2.2.1 CDC类结构
　　- CClientDC（客户区绘图）
　　- CWindowDC（全窗口绘图）
　　- CMetaFileDC（图元文件设备上下文）
　2.2.2 映射模式
　　- 逻辑坐标与设备坐标
　　- 映射模式函数（SetMapMode、SetWindowExt等）
　2.2.3 GDI对象使用
　　- 画笔与画刷创建（CPen、CBrush）
　　- 路径层操作（BeginPath、EndPath）
　2.2.4 基本图形绘制函数
　　- 直线、矩形、椭圆、多边形
2.3 双缓冲机制
　2.3.1 定时器设置与动画实现
　2.3.2 内存设备上下文与位图操作
2.4 MFC绘图方法
　2.4.1 OnDraw()自动绘制
　2.4.2 菜单驱动绘图（ID_GRAPH映射）
　2.4.3 自定义函数绘制（DrawObject）

第三章 基本图形的扫描转换

3.0 光栅化与扫描转换简介
3.1 直线的扫描转换
　3.1.1 DDA算法（数值微分法）
　3.1.2 Bresenham算法
　3.1.3 中点Bresenham算法
3.2 圆的扫描转换
　3.2.1 中点Bresenham画圆算法
　3.2.2 八分圆对称性原理
3.3 椭圆的扫描转换
　3.3.1 四分椭圆对称性
　3.3.2 上半部分与下半部分递推公式
3.4 反走样技术
　3.4.1 走样现象与分类
　3.4.2 加权区域采样原理
3.5 Wu反走样算法
　3.5.1 距离误差项构造
　3.5.2 多像素亮度调节实现

第四章 多边形填充

4.1 填充算法概述
4.2 有效边表填充算法
　4.2.1 有效边定义与桶表结构
　4.2.2 边表（ET）与活动边表（AET）
4.3 扫描线填充算法
4.4 区域填充算法
　4.4.1 四邻接与八邻接连通性
　4.4.2 种子填充算法（堆栈扩散）

第五章 二维变换与裁剪

5.1 图形几何变换基础
　5.1.1 仿射变换与齐次坐标
　5.1.2 物体变换与坐标变换
5.2 基本几何变换
　5.2.1 平移、比例、旋转变换
　5.2.2 反射与错切变换
5.3 二维复合变换
　5.3.1 参考点变换（平移-变换-逆平移）
5.4 直线裁剪算法
　5.4.1 Cohen-Sutherland算法（区域编码）
　5.4.2 中点分割算法
　5.4.3 梁友栋-Barsky算法（参数化裁剪）
5.5 多边形裁剪
　5.5.1 Sutherland-Hodgman算法