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    JTAG

      英文名Joint Test Action Group(联合测试工作组)，是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。

      JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port；测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试，主要的技术为边界扫描技术。如今，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmer，在系统编程），对FLASH等器件进行编程。所以通常所说的JTAG大致分两类，一类用于测试芯片的电气特性，检测芯片是否有问题；一类用于Debug和ISP，一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。如今 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。

14针JTAG接口
1 、 13 　 VCC 接电源

2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 　 GND 接地