一、AD转换器类型
1. 并联比较型(Flash ADC)
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原理:
使用 2N−12N−1 个精密电阻串联形成分压网络,生成 2N−12N−1 个参考电压。输入电压同时与所有参考电压通过并行比较器比较,输出结果经编码器转换为N位数字码。 -
核心特点:
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速度最快:单次转换仅需1个时钟周期,可达 1GSPS(每秒千兆采样) 以上。
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分辨率与成本矛盾:每增加1位分辨率,比较器数量翻倍(如8位需255个比较器,10位需1023个)。
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缺点:
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高功耗(所有比较器同时工作);
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输入电容大,驱动困难;
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分辨率通常≤8位(受限于面积和功耗)。
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应用:高速示波器、雷达信号处理、光通信。
2. 逐次逼近型(SAR ADC)(注:原文"助词比较型"应为笔误)
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原理:
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内部DAC从最高位(MSB)开始逐位生成试探电压;
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比较器对比输入电压 VinVin 与DAC输出电压;
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根据比较结果保留或清除该位,直至最低位(LSB)。
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核心特点:
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速度中等:转换需 NN 个时钟周期(NN为位数),典型速度 1MSPS~10MSPS。
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能效比高:仅需1个比较器,功耗低,适合便携设备。
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精度高:可达18位,抗噪声能力强。
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应用:工业传感器、医疗仪器、电池供电设备。
3. 双积分型(Dual-Slope ADC)
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原理:
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第一次积分:对 VinVin 固定时间 TT 积分,电容充电;
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第二次积分:切换到参考电压 −Vref−Vref 反向积分至零,计时器记录时间 ToutTout;
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输出数字值正比于 Tout/T×VrefTout/T×Vref。
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核心特点:
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超低噪声:积分过程抑制高频干扰;
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速度极慢:转换时间达毫秒级(10~300 SPS);
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高精度低成本:无需精密元件,分辨率可达22位以上。
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应用:数字万用表、电子秤、温度检测等低速高精度场景。
4. Σ-Δ型(Sigma-Delta ADC)
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原理:
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过采样:以远高于奈奎斯特的频率(如128×)采样;
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噪声整形:通过积分器将量化噪声推向高频;
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数字滤波:滤除高频噪声,输出高精度数字码。
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核心特点:
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精度与速度均衡:分辨率 16~32位,速度 10kSPS~1MSPS;
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抗干扰强:适合工业环境;
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延迟较高:数字滤波引入处理时间。
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应用:音频处理(DAC)、地震监测、高精度测量。
5. 流水线型(Pipelined ADC)
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原理:
将转换过程拆分为 MM 级(每级1.5~4位),每级包含:-
子ADC量化;
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子DAC重构;
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残差放大并传递至下一级。
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核心特点:
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高速高分辨率:速度 50MSPS~5GSPS,分辨率 12~16位;
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面积效率高:比Flash ADC节省90%以上比较器(如14位仅需100+比较器);
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延迟固定:每级处理需1周期,总延迟 MM 周期。
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应用:5G通信、高速成像、软件无线电。
对比总结表
类型 | 速度范围 | 分辨率 | 功耗/面积 | 核心优势 | 典型应用 |
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并联比较型 | 1GSPS+ | ≤8位 | 极高(指数增长) | 超高速 | 雷达、示波器 |
逐次逼近型 | 1M~10MSPS | 8~18位 | 低 | 能效比高,精度灵活 | 传感器、便携设备 |
双积分型 | 10~300SPS | 16~24位+ | 极低 | 超高精度,抗噪强 | 万用表、精密测量 |
Σ-Δ型 | 10k~1MSPS | 16~32位 | 中 | 高精度,噪声整形 | 音频、工业控制 |
流水线型 | 50M~5GSPS | 12~16位 | 中高 | 速度与分辨率平衡 | 5G通信、高速数据采集 |
二、指标关键词
1. 最大摆幅(FSR, Full-Scale Range)
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定义:ADC可测量的模拟电压范围(如0~4.096V)。
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设计要点:
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参考电压(Vref)需等于FSR(如FSR=4.096V时,Vref=4.096V),否则会导致量程浪费或超范围失真。
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例外:差分输入时,FSR = Vref+ - Vref-(如±2.048V差分输入对应FSR=4.096V)。
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2. 最大信号频率与采样率
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奈奎斯特采样定理:采样率 fs≥2fmaxfs≥2fmax(fmaxfmax为信号最高频率)。
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工程实践:
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选择 fs≥(20∼50)×fmaxfs≥(20∼50)×fmax 以预留抗混叠滤波器过渡带;
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例如:音频信号(20kHz)需用≥1MSPS的ADC(50倍冗余)。
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3. 最小精度(Accuracy Error)
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定义:实际数字输出与理想输出的偏差,包含所有误差源(量化、偏移、增益等)。
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公式:
Accuracy=±(Offset Error+Gain Error+Quantization ErrorFSR)×100%Accuracy=±(FSROffset Error+Gain Error+Quantization Error)×100%
4. 分辨率(Resolution)
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定义:最小可分辨电压(1 LSB)。
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公式:
Resolution (LSB)=Vref2NResolution (LSB)=2NVref-
示例:Vref=4.096V,12位ADC的分辨率 = 4.096V / 4096 = 1mV。
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5. 信噪比(SNR)
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理想公式(仅量化噪声):
SNR=6.02N+1.76dBSNR=6.02N+1.76dB-
示例:16位ADC的理想SNR≈98dB。
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实际SNR:受热噪声、时钟抖动影响,通常低于理论值。
6. 采样时间(Acquisition Time, tACQtACQ)
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定义:采样保持电路捕获输入信号并稳定到所需精度(如0.5LSB)的时间。
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影响因素:输入电容、源阻抗、建立精度要求。
7. 转换时间(Conversion Time, tCONVtCONV)
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定义:ADC核心完成量化过程的时间,与架构相关:
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SAR ADC:tCONV=N×TCLKtCONV=N×TCLK(N=位数)
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Flash ADC:tCONV≈1∼5nstCONV≈1∼5ns
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8. 吞吐率(Throughput Rate)
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公式:
fmax=1tACQ+tCONVfmax=tACQ+tCONV1-
关键点:转换速率取决于二者之和,而非仅 tCONVtCONV。
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9. 最小有效位(LSB)
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定义:数字码最低位变化对应的模拟电压变化量。
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计算:LSB=FSR2NLSB=2NFSR(与分辨率数值相同)。
10. 量化误差(Quantization Error)
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来源:模拟量到离散数字量的舍入误差。
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范围:±12LSB±21LSB(理想ADC)。
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降低方法:提高分辨率或过采样(如Σ-Δ ADC)。
11. 有效位数(ENOB, Effective Number of Bits)
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定义:实际ADC在包含噪声和失真时的等效精度。
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公式:
ENOB=SINAD−1.76dB6.02ENOB=6.02SINAD−1.76dB-
意义:16位ADC若SINAD=90dB,则ENOB≈14.7位。
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12. 传输方式
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单端输入:
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信号以地为参考,易受共模噪声干扰(如50Hz工频干扰)。
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差分输入:
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使用两根相位相反的信号线,抑制共模噪声(CMRR≥80dB)。
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典型应用:工业环境、高速ADC。
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13. 模拟输入钳位保护
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作用:防止过高/过低输入电压损坏ADC(如±15V钳位至VDD/GND)。
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实现:内部二极管钳位至电源轨,需限流电阻配合。
14. 抗混叠滤波器(Anti-Aliasing Filter)
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目的:滤除 ≥fs2≥2fs 的高频成分,避免混叠失真。
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设计:
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截止频率 fc≤fs2fc≤2fs;
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陡峭滚降(如8阶巴特沃斯滤波器)。
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15. 微分线性误差(DNL, Differential Nonlinearity)
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定义:实际步进电压与理想1 LSB的偏差。
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要求:|DNL| < 1 LSB(保证无丢码)。
16. 积分线性误差(INL, Integral Nonlinearity)
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定义:实际传输曲线与理想直线的最大偏差。
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影响:决定整体精度(如±2 LSB INL表示最大误差为2LSB)。
17. 偏移误差(Offset Error)
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定义:零点偏差(输入0V时输出非零)。
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校准:软件减偏移量或硬件调零。
18. 增益误差(Gain Error)
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定义:满量程输出与理想值的比例偏差。
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校准:软件乘校正系数。
19. 总谐波失真(THD, Total Harmonic Distortion)
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定义:谐波分量(2~5次)功率与基波功率之比:
THD=10log10(∑Harmonic PowerFundamental Power)THD=10log10(Fundamental Power∑Harmonic Power) -
要求:高速ADC需THD < -80dB。
20. 信号与噪声谐波比(SINAD)
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定义:信号功率与(噪声+谐波失真)功率之比:
SINAD=6.02×ENOB+1.76dBSINAD=6.02×ENOB+1.76dB -
意义:综合评估动态性能的核心指标。
21. 无杂波动态范围(SFDR, Spurious-Free Dynamic Range)
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定义:基波功率与最大杂散分量功率的差值。
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示例:SFDR=100dB表示杂散比基波低100dB。
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应用:通信系统要求高SFDR(如≥90dB)。
三、高速AD设计的流程
高速ADC选型设计全流程
步骤1:根据系统需求确定ADC核心参数
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分辨率计算:
N≥log2(FSR最小分辨率)N≥log2(最小分辨率FSR)
示例:若FSR=4.096V,要求最小分辨0.5mV → N≥log2(4.096/0.0005)≈13.03N≥log2(4.096/0.0005)≈13.03 → 选择14位ADC-
冗余设计:增加1~2位余量(如选16位ADC应对噪声影响)
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架构选择(依据采样率):
采样率需求 推荐架构 典型场景 >500MSPS 流水线型 5G通信、雷达 100-500MSPS 流水线型/Flash混合 高速示波器 1-100MSPS SAR型(高速版) 医疗成像
步骤2:输入前端滤波电路设计
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电容选型规则:
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外部滤波电容 Cext=20×CHOLDCext=20×CHOLD (CHOLDCHOLD为ADC内部采样电容,查datasheet)
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电容类型:
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普通场景:X7R陶瓷电容(±10%容差)
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高性能场景:C0G/NP0陶瓷电容(容差±5%,温度系数±30ppm/℃)
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电阻计算:
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目标:在ADC采样时间 tACQtACQ 内建立到0.5LSB精度
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最大允许电阻:
Rmax=tACQ9.2×(Cext+CHOLD)Rmax=9.2×(Cext+CHOLD)tACQ (9.2对应16位精度建立)
示例:若 tACQ=10nstACQ=10ns, CHOLD=5pFCHOLD=5pF → Cext=100pFCext=100pF
→ Rmax=10e−99.2×105e−12≈10.4ΩRmax=9.2×105e−1210e−9≈10.4Ω
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步骤3:驱动运放选型与验证
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增益带宽积(GBWP)要求:
GBWP≥4×12πRCGBWP≥4×2πRC1 (R=Rfilter,C=CextR=Rfilter,C=Cext)
示例:RC截止频率 fc=12π×10Ω×100pF≈159MHzfc=2π×10Ω×100pF1≈159MHz
→ GBWP ≥ 4×159MHz = 636MHz -
压摆率(Slew Rate)要求:
SR≥2πfmaxVppSR≥2πfmaxVpp
示例:若信号 fmax=50MHz,Vpp=2Vfmax=50MHz,Vpp=2V
→ SR ≥ 2π×50e6×2 ≈ 628V/μs -
稳定性验证:
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相位裕度:通过SPICE仿真确保 > 60°
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建立时间:满幅阶跃响应在 tACQtACQ 内稳定到0.5LSB
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噪声贡献:运放输入电压噪声 < 1331 ADC量化噪声
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步骤4:抗混叠滤波器设计
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截止频率设定:
fc=fs2×OverSample Ratiofc=2×OverSample Ratiofs (过采样比通常取1.2~1.5)
示例:采样率 fs=500MSPSfs=500MSPS → fc≤500/2.5=200MHzfc≤500/2.5=200MHz -
滤波器阶数选择:
阻带衰减需求 推荐阶数 滚降斜率 40dB 4阶 -80dB/十倍频程 60dB 6阶 -120dB/十倍频程
步骤5:电源与布局关键点
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电源去耦:
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每路电源引脚:1个100nF X7R + 1个10μF钽电容
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高频ADC额外增加:2.2μF陶瓷电容(针对10-100MHz噪声)
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PCB布局规则:
图表
代码
设计验证清单
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时序验证:tACQ+tCONV<1fstACQ+tCONV<fs1
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噪声预算:总噪声 < 目标精度(量化噪声+热噪声+运放噪声)
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电源纹波:≤ 1% FSR(如4.096V系统要求<40mVpp)
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温漂影响:在全温度范围内验证INL/DNL
⚠️ 高速设计陷阱:
忽略ADC输入电容的非线性(导致失真)
未考虑时钟抖动(SNRclock=−20log10(2πfintj)SNRclock=−20log10(2πfintj))
使用普通FR4板材导致信号损耗(>6GHz建议用Rogers板材)
案例:1GSPS 14位流水线ADC设计
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前端参数:
CHOLD=3pFCHOLD=3pF → Cext=60pFCext=60pF (C0G)
Rfilter=5ΩRfilter=5Ω (0603封装,降低寄生电感) -
运放选型:
GBWP=1.5GHz, SR=900V/μs (如ADI ADA4960) -
抗混叠滤波:
3阶巴特沃斯, fc=400MHzfc=400MHz ( fs=1GSPSfs=1GSPS )
通过此流程可系统化完成高速ADC选型与外围电路设计,确保信号链性能最优。