【ARM Coresight 系列文章 3.5 - ARM Coresight -- JTAG-DP(JTAG Debug Port) 详细介绍】

本文详细介绍了ARM Coresight中的JTAG Debug Port(JTAG-DP),包括DP元素如TAP状态机、IR和DR寄存器,以及JTAG-DP的信号连接和指令扫描链。文中还阐述了DPv3 JTAG-DP如何访问AP,并提及了DP和AP寄存器的访问机制。

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请阅读【ARM Coresight SoC-400/SoC-600 专栏导读】

概述

本节内容主要介绍 JTAG Debug Port 、Debug Test Access Port (DBGTAP), Debug Test Access Port State Machine (DBGTAPSM), 和 scan chains。

本节对对 IEEE 1149.1中的一些专业名词加了前缀 “DBG”

IEEE 1149.1 name JTAG-DP name JTAG-DP description
TAP DBGTAP Debug Test Access Port.
TAPSM DBGTAPSM Debug Test Access Port State Machine.

1.1 DP elements

DP 必须包含下

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