多光束干涉测量的原理与应用
1. 引言
光的干涉是光学领域中的重要现象,多光束干涉测量在多个领域有着广泛的应用,如光谱分析、光学测量等。本文将深入探讨多光束干涉测量的相关原理,包括平行平板干涉、法布里 - 珀罗标准具以及源点阵列干涉等内容,并介绍其在实际应用中的操作和分析方法。
2. 平行平板的多光束干涉
2.1 原理分析
考虑一束光以角度 $\theta_1$ 从折射率为 $n = 1$ 的介质入射到折射率为 $n_2$、厚度为 $D$ 的平行平板上。根据斯涅尔定律,出射角等于入射角 $\theta_1$,平板内的反射角为 $\theta_2$。
为了计算反射波和透射波的强度,我们需要考虑平板内的所有内部反射。假设入射波的振幅为 $A$,反射波和透射波的振幅分别为 $A_{ir}$ 和 $A_{it}$($i = 1, 2, 3, \cdots$)。
通过计算反射在第一表面的波和反射在第二表面一次的波的光程差 $\delta$,可得:
$\delta = 2n_2[bc] - [ac]\sin\theta_1 = 2Dn_2/\cos\theta_2 - 2D\tan\theta_2\sin\theta_1$
利用折射定律,可化简为:
$\delta = 2Dn_2\cos\theta_2$
2.2 反射和透射振幅的计算
反射振幅和透射振幅的表达式如下:
- 反射振幅:
$A_{1r} = A r_{12}$
$A_{2r} = A \tau_{12} r_{21} \tau_{21} e^{i\epsilo