【基于C# + HALCON的工业视系统开发实战】二十七、激光雷达罩全参数质检:透波率与光学畸变一体化测量

摘要:本文针对自动驾驶激光雷达罩光学性能检测的行业需求,提出基于C# .NET Core 6与HALCON 24.11的一体化检测方案。系统通过1550nm激光源与红外相机构建双光路测量系统,实现透波率精准计算;采用准直光学系统与干涉法完成波前畸变分析,结合Zernike多项式拟合实现纳米级误差测量;通过标准靶球点云拟合验证点云位置精度。核心算法包括双光路透波率计算(精度±0.3%)、Zernike波前拟合(RMS误差±1nm)、球体中心偏差分析(±0.01mm)。文中提供完整C#代码(图像采集、参数计算、报告生成)与实操指南,企业验证显示系统可满足透波率>95%、波前畸变<50nm、位置精度<0.1mm的行业标准,为激光雷达罩量产质检提供可靠解决方案。


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