weixin_42286052的博客

大家想想看，所谓探伤，最基本的要求就是测出工件内部缺陷的位置，这不就是测厚功能吗，再加上探伤仪具有的DAC、AVG、B扫描等功能，探伤仪才更加强大。也有人说探伤仪功能那么强大，怎么说实质上就是一个测厚仪呢，当然除了测厚，还要测出缺陷大小，这样测厚就上升为探伤了，测厚仪电路是探伤仪电路其中的一小部分。探伤仪就是一个高级测厚仪而已。

超声检测设备的种类包括：超声波探伤仪超声波测厚仪C扫描TOFD相控阵超声波电磁超声检测仪导波检测仪等。

线性扫查是不同的时间激发不同组的晶片，从而形成电子扫查。晶片激发的时间不同，从而产生不同角度的波束偏转。扇形扫查通过探头的波束偏转来控制。

多个A扫描组成了B扫描多个B扫描又组成了C扫描全息C扫描数据可以生成任意深度位置的C扫描

科技领先离不开无损检测

B扫描：一个轴代表探头的扫查方向，另一个轴代表声波传播的方向；C扫描：一个轴代表探头的扫查方向，另一个轴代表探头的步进方向；D扫描：一个轴代表探头的步进方向，另一个轴代表声波传播的方向；A扫描：一个轴代表声波传播的时间，另一个轴代表波幅高度；超声波相控阵检测中的A扫描B扫描C扫描和D扫描区别。

探头的性能直接影响超声波的特性，影响超声波的检测性能。晶片是一个具有压电效应的单晶或者。它的作用是将电能和声能互相转换。过程中发射和接收超声波的装置。

将探头和工件浸于液体中以液体作耦合剂进行探伤的方法，称为液浸法。但对被测试件探测面的粗糙度要求较高。液浸法分为全浸没式和局部浸没式。因此可以看作为两者直接接触，是实际探伤中用得最多的方法。耦合剂可以是油，也可以是水。液浸法适用于表面粗糙的试件，探头与试件探测面之间，涂有很薄的耦合剂层，此法称为直接接触法。便于实现自动化探伤。

显示在角度扇区或扫查范围内由聚焦法则生成的所有A扫描，而且这些A扫描在延迟和真实深度方面都得到了校正，线的颜色根据其所代表的波幅的不同而变化，因而.它们相对于超声轴的位置非常精确。以生成工件的横截面图。这些A扫描表现为线条，超声数据的2维视图，

显示超声数据的方式为:在一个轴上显示步进长度，另一个轴上显示超声声程。

可用参数中的一个参数(如:最大波幅)的每个点(像素)均被投射到步进扫查平面图上。在一个轴上显示扫查长度，另一个轴上显示步进长度。

在一个轴上显示扫查长度，另一个轴上显示超声声程。

超声轴上起始位置和终止位置的波幅峰值--般对应于声波入射到工件表面的回波和碰到底面产生的回波。A扫描表现为接收的超声脉冲波幅与渡越时间(超声声程)的关系，或者说表现为波形。信号峰值对应于工件中的反射体或不连续性生成的回波。这个扫描图是其它所有扫描图的基础。

从上向下看到材料的内部图。

共振法：若声波（频率可调的连续波）在被检工件内传播，当试件的厚度为超声波的半波长的整数倍时，将引起共振，仪器显示出共振频率。当试件内存在缺陷或工件厚度发生变化时，将改变试件的共振频率，依据试件的共振频率特性，来判断缺陷情况和工件厚度变化情况的方法称为共振法。共振法常用于试件测厚。穿透法：穿透法是依据脉冲波或连续波穿透试件之后的能量变化来判断缺陷情况的一种方法。穿透法常采用两个探头，一收一发分别放置在试件的两侧进行探测。

按原理分:脉冲反射法、衍射时差法、穿透法、共振法。

超声波发现缺陷的基本原理

引起超声波衰减的主要原因是波束扩散、晶粒散射和介质吸收

当超声波倾斜入射到界面时，除产生同种类型的反射和折射波外，还会产生不同类型的反射和折射波，这种现象称为波型转换。

根据波源振动的持续时间长短,将波动分为连续波和脉冲波。

根据波阵面形状不同， 可以把不同波源发出的波分为平面波、 柱面波和球面波。

沿工件表面下一定距离处在横波和表面纵波之间传播的峰值波称为纵向头波或爬波。

在板厚与波长相当的薄板中传播的波，称为板波。

表面波只能在固体表面传播。

波速、波长和频率的关系:λ= c/ f

横波（记为 S）:质点振动方向与波动传播方向互相垂直。也叫剪切波、切变波

纵波（记为 L）质点振动方向与波动传播方向相同，也叫压缩波、疏密波。

纵波横波表面波爬波板波

周期、频率、波长和波速

超声波的优点

超声波的特性