SAR ADC LSB Repeat 技术

SAR ADC的非理想因素来源有多种，也有很多校正技术。校正技术有:1)DEM&Dither ,这个可以参考《Noise sharping SAR ADC with DAC DEM》，dither是输入加入一个噪声扰动，后续给处理掉的方法。2)Redundant ，这个可以参考《SAR ADC 冗余介绍》和《SAR ADC冗余算法》这两篇文章，里面有详细介绍。3)LSB repeat，可以简单理解为结束完最低位比较后，添加冗余位再进行比较，以平均化噪声。

SAR ADC的噪声来源很多。采样时有采样噪声KT/C.转换阶段有比较器的噪声，Vref的噪声，开关的噪声等，这些噪声如果比较大，会影响比较器的判决结果。如果我们想降低比较器的噪声，需要牺牲很大的面积和功耗。所以我们采用LSB repeat技术，来减小噪声对SAR ADC 性能的影响。

最低位repeat 多次，如果当高位因为噪声有一个比较错误，这样低位的Repeat可以纠正这个错误。如果高位没有判决错误，等最低位判决结束后，就剩下残余电压，这些残余电压里夹杂着噪声，这些噪声呈现高斯分布，则这些噪声的平均值为0，那经过多次比较后，相当于输出的码值平均值趋于0，那么就可以提升起到降噪声提升ADC性能的效果。

这里要注意实际的噪声是没有降低的。同样的噪声水平下，根据上图的仿真结果可以选择不同的repeat 权重和repeat次数。可以看到采用1bit 权重，repeat需要5次左右。而采用0.5bit权重，只要3次就可以达到同样的效果。所以repeat次数和repeat 权重可以根据需要灵活设置。

LSB repeat 技术通过在 SAR ADC 转换流程的末尾（LSB 及邻近低位）‌引入多次比较冗余‌，并采用‌平均或表决机制‌处理多次比较结果，有效‌抑制了噪声和随机误差对最低位转换的影响‌，从而‌提升了转换精度和可靠性‌，尤其是在面临噪声敏感或需要高精度校准的应用场景中，但其代价是‌增加了转换时间和控制逻辑复杂度。