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一、创作目的
作为射频芯片研发测试工程师,笔者发现网络上很多参考资料都是射频芯片的设计和仿真教程,但射频芯片不仅仅需要仿真,更需要在实验室进行测试调试,满足指标和可靠性需求才可以量产。从这篇文章开始,我将和各位看官分析RF PA的各种指标及其实验室测试方法,希望大家看完此系列文章能基本掌握RF PA的实验室测试。尤其是刚入职的小伙伴可能更需要的是看完就能上手进行测试、调试的文章分享,并非枯燥乏味的理论说教。选择RF PA的理由很简单,射频功放被称为射频器件皇冠上的明珠,是射频前端技术难度很高的芯片,学会RF PA的测试和调试,对于低噪声放大器(LNA)和其他射频器件,可以根据指标需求就能搭建相应的测试平台。
二、PA的主要参数
如上,思维导图列出PA的静态、小信号、大信号三大状态,三者在实验室中通常是按顺序验证,先上电看静态电流正常与否,再看小信号S2P是否正常,最后再输入大信号看相应指标与仿真能否对上(通常新设计回来的功放都是需要通过不断调试和测试逼近仿真结果,很少有设计师能保证仿真数据和测试能完美对上的,其中有多重影响因素造成仿真基本上是不能和实测相等的)。静态偏置和小信号状态大多是和仿真可以对上的,大信号状态下只有趋势可以对上,这时测试、调试是必要环节,不仅需要大量时间,更需要在多种指标之间进行取舍。