如何利用基于PXI的下一代ATE系统测试平台进行军事/航天/卫星电子设备测试

前言

        自动测试设备（ATE）系统用于在生产产品或产品使用过程中测试电子组件，子组件或完整系统的功能和性能，以确保他们可操作性。对设备、电路板、子组件或系统的测试要求从简单到复杂，设计测试系统的方法可能基于定制以及专有硬件和软件，或基于商用现成品（COTS）技术。

       20世纪60年代末，商用ATE系统首次出现在市场上。这些ATE系统基于专有的数字、模拟和交换架构，并被广泛的客户用于高价值、关键任务产品的功能测试和验证，例如：

•板级和系统级航空电子设备。

•武器和航空电子设备的测试和修理。

•通信和卫星子系统。

        在过去的10到15年中，许多公司已经从传统的专有ATE硬件过渡到基于COTS的工业标准硬件，以支持其对功能测试的需求。随着先进的、高性能的板卡模块化平台如PXI（PCI仪器扩展）的出现，终端用户和测试系统集成商已经能够利用COTS仪器和系统的先进功能，用经济高效、占地面积小的解决方案取代传统的专有测试平台。

模块化平台特点与优势

        除了用最新的和可支持的系统替换过时和不受支持的系统（通常称为“遗留替换”），COTS仪器产品和系统与传统的专有或定制测试系统相比具有多种优势：

•灵活性：测试系统可以配置为完全适合测试应用程序的

•支付能力：