TAP、TAP_CTRL、SIB、TDR、BAP、TMB的中文名称以及它们的对外、对内接口信号和连接关系

由于具体的接口信号可能会因不同的设计或标准而有所差异，以下回答将提供一般性的描述。

中文名称

• TAP（Test Access Port）：测试访问端口
• TAP_CTRL（TAP Controller）：TAP控制器
• SIB（Segment Insertion Bit）：段插入位
• TDR（Test Data Register）：测试数据寄存器
• BAP（BIST Access Port）：内建自测试访问接口
• TMB（Tessent Memory BIST Controller）：Tessent存储器内建自测试控制器

对外、对内接口信号及连接关系

TAP

对外接口信号：

• TCK（Test Clock）：测试时钟，由外部测试设备提供，用于同步TAP接口上的操作。
• TMS（Test Mode Select）：测试模式选择，由外部测试设备控制，用于改变TAP状态机的状态。
• TDI（Test Data In）：测试数据输入，从外部测试设备接收测试数据或指令。
• TDO（Test Data Out）：测试数据输出，向外部测试设备发送测试响应或状态信息。

对内接口信号（通常与TAP_CTRL相连）：

• 控制信号，如启动、停止测试等。
• 状态信号，如测试模式状态、测试进度等。

TAP_CTRL

对外接口信号（与TAP相连）：<