测试自动化以及BSI(Boundary Scan Inspector)概述

1. 概要

在测试自动化领域，BSI指的是Boundary Scan Inspector，顾名思义，是基于边界扫描技术（Boundary Scan）用于测试和诊断集成电路（IC）的用以实现测试自动化的设备。

2. BSI

• 定义：Boundary Scan Inspector（BSI）是边界扫描技术中的一种工具或设备，用于执行边界扫描测试，以检测和诊断集成电路（IC）及其互连的故障。
• 作用：BSI通过边界扫描技术，能够访问和控制芯片内部的信号线，从而实现对芯片及其互连的全面测试和诊断。

2.1. 工作原理

• 边界扫描技术：边界扫描技术通过在芯片的边界上添加边界扫描电路（Boundary Scan Cells），形成扫描链（Scan Chain），实现对芯片内部信号线的访问和控制。这些扫描单元与芯片内部的逻辑电路相连，形成一个环形的扫描路径。
• BSI的工作流程：
  1. 进入测试模式：BSI通过输入特定的测试模式选择信号，将芯片切换到测试模式。
  2. 扫描链配置：BSI将测试模式下的控制数据从边界扫描输入（BSI输入）输入到扫描链中，通过边界扫描输出（BSO）将扫描链中的数据输出到外部。
  3. 测试数据输入：BSI将测试数据输入到边界扫描输入中，通过扫描链将数据传递到芯片内部的逻辑电路中。
  4. 测试激励和观测：BSI通过激励信号激励芯片内部的逻辑电路，并通过观测信号观测电路的输出结果。
  5. 测试结果输出：BSI将观测结果通过扫描链传递到边界扫描输出中，输出到外部进行分析和判断。
  6. 退出测试模式：测试结束后，BSI将芯片切换回正常工作模式。

2.2. 应用场景

• 芯片生产测试：BSI可以用于对芯片进行生产测试，通过激励和观测芯片内部逻辑电路，检测芯片是否正常工作以及是否存在故障。
• 芯片故障诊断：当芯片出现故障时，BSI可以通过观测结果的分析，帮助定位故障发生的位置，加快故障诊断的速度。
• 芯片验证：在芯片设计和验证阶段，BSI可以用于验证芯片内部逻辑电路的正确性，确保芯片设计符合预期的功能和性能要求。
• 系统级测试：在板级集成后，BSI还可以通过对板上可编程逻辑器件（如CPLD）或闪存的在线编程，实现系统级的测试。

2.3. 特点与优势

• 高效性：BSI通过边界扫描技术，能够实现对芯片及其互连的快速测试和诊断，提高测试效率。
• 准确性：BSI能够精确地定位和诊断芯片及其互连的故障，提高测试的准确性。
• 灵活性：BSI支持多种测试模式和测试数据，能够适应不同类型的芯片和测试需求。
• 非破坏性：BSI的测试过程对芯片及其互连没有破坏性，可以确保测试后的芯片仍然能够正常使用。

综上所述，Boundary Scan Inspector（BSI）作为边界扫描技术中的一种重要工具或设备，在测试自动化领域具有广泛的应用前景和重要的价值。它通过边界扫描技术实现对芯片及其互连的全面测试和诊断，为芯片的生产测试、故障诊断、验证以及系统级测试提供了有效的解决方案。

3. Dummy卡

在测试自动化领域，与BSI（Boundary Scan Inspector，边界扫描检测器）相关联的Dummy卡起着至关重要的作用。Dummy卡，作为一种特殊的测试卡或模块，在边界扫描测试中扮演着关键角色。以下是Dummy卡在与BSI配合使用时的主要作用：

1. 组成JTAG链路：