芯片工艺PVT STA分析 OCV分析

最新推荐文章于 2025-02-16 00:08:35 发布

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分类专栏：硬件理论知识学习文章标签：单片机嵌入式硬件

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博客介绍了PVT（process, voltage, temperature），它是考虑工艺、电压和温度形成的条件组合。还阐述了STA（Static Timing Analysis）的三种分析方法及不同的STA分析条件。此外，说明了OCV（On - chip Variations）体现的差异及对芯片的影响，可用于考虑长距离走线对时钟路径的影响。

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PVT (process, voltage, temperature)

在一片wafer上，不可能每点的载流子平均漂移速度都是一样的，随着电压、温度不同，它们的特性也会不同，把他们分类就有了PVT（Process，Voltage，Temperature）。

设计除了要满足前文所说的工艺角 Process Corner外，还需要满足电压与温度等条件, 形成的组合称为PVT (process, voltage, temperature) 条件。

电压如：1.0v+10% ,1.0v ,1.0v-10%
温度如：-40C，0C，25C，125C

设计时设计师还常考虑找到最好最坏情况. 时序分析中将最好的条件(Best Case)定义为速度最快的情况, 而最坏的条件(Worst Case)则相反。

STA (Static Timing Analysis)

三种STA分析方法（核心思想是为了实现在比较极限的最坏情况下仍然保证有效性）：

单一模式, 用同一条件分析setup/hold
WC_BC模式, 用worst case计算setup，用best case计算hold
OCV模式, 计算setup 用计算worst case数据路径，用best case计算时钟路径；
计算hold 用best case计算数据路径，用worst case计算时钟路径；