【OTA和Chamber测试】是无线通信领域中用于评估设备天线性能的重要环节。在4G和5G设备的研发和生产过程中，这两种测试方法扮演着关键角色。
4G LTE测试通常涉及对设备的辐射性能进行评估，这可以通过无源测试（Passive）和有源测试（OTA, Over The Air）来完成。无源测试主要关注天线本身的辐射特性，而有源测试则侧重于设备在实际通信环境中的辐射功率（TRP, Total Radiated Power）和接收灵敏度（TIS, Total Isotropic Sensitivity）。根据天线测量距离的不同，测试分为远场（FF, Far-Field）和近场（NF, Near-Field）测试。远场测试是目前4G Chamber测试的主流，主要用于测量TRP和TIS，确保设备在远距离下的通信能力。近场测试则主要应用于天线设计和开发阶段。
在4G Chamber测试中，设备（DUT）被置于一个特制的微波暗室内，通过通信测试仪模拟基站，与DUT建立通信连接，测量其发射和接收功率。CTIA的OTA测试系统是典型的例子，包括暗室、转轴控制器、射频测试仪器、测量/通讯天线以及个人电脑控制的自动化测试程序。这种测试虽然精确，但成本高、操作复杂，不适合大规模快速测试。
为了适应批量生产和快速测试的需求，工厂测试引入了近场OTA测试，如WiPASX系统，通过软件和硬件的交互，快速得到近场值进行一致性比较。此外，还有一种新兴的Ether OTA测试站，它试图集成所有测试功能，并通过T677测试器将近场辐射转化为远场辐射，模拟Chamber测试，以检测天线组装问题。同时，借助机器学习模型工具，可以分析近场辐射模式，判断可能的组装不良。
5G设备测试面临着更大的挑战，因为5G引入了毫米波通信和Massive MIMO（多输入多输出）技术。毫米波通信在频率上超越了4G，但其高损耗和设备体积小的问题需要新的测试方案。Massive MIMO的Beamforming技术也需要专门的测试以确保性能。传统的4G OTA测试系统无法满足这些新需求，因此，研发一种新的Chamber测试系统来应对5G设备的测试条件显得至关重要。
总结来说，OTA和Chamber测试是无线通信设备质量保证的关键步骤。从4G的无源和有源测试到5G的毫米波和Massive MIMO技术，测试方法不断进化以应对新技术带来的挑战。未来的测试系统需要更加高效、精准且适应性强，以满足5G设备的多样化测试需求。
