Standard Test Data Format (STDF) Specification

STDF（Standard Test Data Format）是标准测试数据格式的缩写，这是一个专门针对自动测试设备（ATE，Automatic Test Equipment）行业开发的数据格式规范。随着ATE行业的成熟，为了克服不同制造商之间，甚至同一制造商不同产品线之间测试系统测试结果数据不兼容的问题，Teradyne公司开发了这种简单、灵活、可移植的数据格式。通过STDF格式，现有的数据文件和格式可以被容易且经济地转换，以实现数据的兼容和共享。 STDF的设计目标是提供一种统一的方式来记录和共享测试结果，以便于数据的跨平台分析和处理。STDF的记录结构基于记录头和不同类型的数据记录，记录头通常包含了记录的类型和子类型、数据类型代码以及时间日期等信息。STDF还定义了数据类型代码和表示方法，并处理了时间日期的使用。同时，STDF规范还说明了可选字段、丢失/无效数据的处理方式，并且指出了“初始序列”的概念。 STDF包含了多种记录类型，每一种记录类型都对应一种特定的测试数据信息，例如： - 文件属性记录（FileAttributesRecord）：包含了STDF文件的基本属性。 - 审计追踪记录（AuditTrailRecord）：记录了生成和修改STDF文件的详细信息。 - 主信息记录（MasterInformationRecord）：记录了测试的主设备或测试站的相关信息。 - 主结果记录（MasterResultsRecord）：包含了测试过程中获得的总体结果。 - 部件计数记录（PartCountRecord）：记录了测试中通过/失败的部件数量。 - 硬件配置记录（HardwareBinRecord）：记录了测试中使用的硬件配置信息。 - 软件配置记录（SoftwareBinRecord）：记录了用于测试的软件配置。 - 引脚映射记录（PinMapRecord）：描述了与设备引脚相关的测试数据。 - 引脚组记录（PinGroupRecord）：将多个引脚分组记录。 - 引脚列表记录（PinListRecord）：记录了与特定引脚相关的测试数据。 - 重新测试数据记录（RetestDataRecord）：记录了需要重新测试的数据。 - 站点描述记录（SiteDescriptionRecord）：提供了测试站点的详细描述。 除了上述记录类型之外，STDF规范还包含了许多其他类型的数据记录，如晶圆信息记录（WaferInformationRecord）、晶圆结果记录（WaferResultsRecord）、测试概要记录（TestSynopsisRecord）、参数测试记录（ParametricTestRecord）、功能测试记录（FunctionalTestRecord）等。每种记录类型都有其特定的用途，为测试数据分析提供丰富的内容。 STDF文件命名和排序遵循一定的规则，STDF文件可以包含修复信息，以便于数据的管理和故障分析。STDF规范还详细说明了文件字符、所需记录和对特定STDF记录类型的变更。 STDF规范的版本更新中，也指出了STDF V3和V4在记录类型、数据类型、文件名字符、必需记录以及特定STDF记录类型变更等方面的不同。 STDF格式的引入，对于推动ATE行业数据互操作性和标准化具有重要的意义。它降低了数据兼容性的技术壁垒，允许不同的测试系统和客户之间共享和分析测试结果数据，从而提高了测试效率和数据利用的价值。随着自动化测试技术的不断进步，STDF作为数据交换的标准格式，其重要性将会更加凸显。