Curso: Materiales de Construcción
S03. S2 Tarea – Caracterización de los Materiales
1. Difracción de Rayos X (DRX)
1.1. Conceptos Generales
Desde su descubrimiento en 1912 por Von Laue, la difracción de rayos X ha
proporcionado un medio adecuado y práctico para la identificación cualitativa de
compuestos cristalinos y sobre el ordenamiento y espaciado de los átomos en materiales
cristalinos. El método de difracción de rayos X en general y en particular de polvo
cristalino es el único método analítico capaz de suministrar información cualitativa y
cuantitativa sobre los compuestos cristalinos presentes en un sólido, basándose en el
hecho de que cada sustancia cristalina presenta un diagrama de difracción único. Así,
pueden compararse un diagrama de una muestra desconocida y el de una muestra
patrón, y determinar su identidad y composición química (1).
Los rayos X son una radiación electromagnética de longitud de onda corta producida por
el frenado de electrones de elevada energía o por transiciones de electrones que se
encuentran en los orbitales internos de los átomos. El intervalo de longitudes de onda de
los rayos X comprende desde aproximadamente 10 nm hasta 10 nm, sin embargo, la
espectroscopía de rayos X convencional se limita, en su mayor parte, a la región de
aproximadamente 0,01 nm a 2,5 nm.
La técnica consiste en hacer incidir un haz de rayos X sobre el sólido sujeto a estudio. La
interacción entre el vector eléctrico de la radiación X y los electrones de la materia que
atraviesa dan lugar a una dispersión. Al producirse la dispersión tienen lugar
interferencias (tanto constructivas como destructivas) entre los rayos dispersados, ya que
las distancias entre los centros de dispersión son del mismo orden de magnitud que la
longitud de onda de la radiación. El resultado es la difracción, que da lugar a un patrón
de intensidades que puede interpretarse según la ubicación de los átomos en el cristal,
por medio de la ley de Bragg. La misma postula que cuando un haz de rayos X incide sobre
la superficie de un cristal formando un ángulo θ una porción del haz es dispersada por la
capa de átomos de la superficie; la porción no dispersada del haz penetra en la segunda
capa de átomos donde, nuevamente una fracción es dispersada y así sucesivamente con
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cada capa hasta la profundidad de aproximadamente 1000 nm, lo que lo hace una técnica
másica. El efecto acumulativo de esta dispersión producida por los centros regularmente
espaciados del cristal es la difracción del haz.
En 1912, W. L. Bragg trató la difracción de rayos X por cristales, como se muestra en la
figura (figura 1):
Figura 1: Interacción
entre los rayos X y la
estructura cristalina
de un material
Un haz estrecho de radiación choca contra la superficie del cristal formando un ángulo θ,
la dispersión tiene lugar como consecuencia de la interacción de la radiación con los
átomos localizados en O, P y R.
Se puede escribir que las condiciones para que tenga lugar una interferencia constructiva
del haz que forma un ángulo θ con la superficie del cristal, son:
Donde n es un número entero que representa el orden de la difracción y d es la distancia
interplanar del cristal. En esta ecuación llamada Ecuación de Bragg, hay que señalar que
los rayos X son reflejados por el cristal sólo si el ángulo de incidencia satisface la
condición.
Para todos los demás ángulos, tienen lugar interferencias destructivas.
Los requisitos para la difracción de rayos X son: (1) que el espaciado entre las capas de
átomos sea aproximadamente el mismo que la longitud de onda de la radiación y (2) que
los centros de dispersión estén distribuidos en el espacio de una manera muy regular.
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1.2. Técnica de difracción
1.2.1. Preparación de la muestra:
La muestra cristalina se muele hasta obtener un polvo fino y homogéneo. De esta forma,
los numerosos pequeños cristales están orientados en todas las direcciones posibles; y,
por tanto, cuando un haz de rayos X atraviesa el material, se puede esperar que un
número significativo de partículas estén orientadas de tal manera que cumplan la
condición de Bragg de la reflexión para todos los espacios interplanares posibles.
1.2.2. Colocación de la muestra:
Las muestras adecuadamente pulidas, o en polvo alisadas, van colocadas en una porta
muestra que se ubica en forma horizontal o vertical, según sea el dispositivo del equipo.
El difractómetro consta de un detector móvil de rayos X que para cada ángulo 2 θ registra
la intensidad, permitiendo obtener el difractograma propio del material.
1.2.3. Interpretación de los diagramas de difracción:
La identificación de las especies a partir de su diagrama de difracción de polvo cristalino
se basa en la posición de líneas y en sus intensidades relativas. El ángulo de difracción 2
θ se determina por el espaciado entre un grupo particular de planos, con la ayuda de la
ecuación de Bragg, la distancia d se calcula a partir de una longitud de onda de la fuente
conocida y del ángulo medido. Las intensidades de las líneas dependen del número y del
tipo de centros atómicos de reflexión que existen en cada grupo de planos y las
concentraciones relativas de los distintos planos.
Generalmente para identificar las diferentes fases cristalinas obtenidas se utilizan los
patrones de difracción contenidos en la base de datos JCPDS (Joint Committee for
Powder Diffraction Sources) de la ICDD (International Center for Diffraction Data). En
estas fichas figuran los ángulos de difracción, intensidades, espaciados reticulares,
índices de Miller de los planos, así como otras características del material (composición,
color, punto de fusión, clasificación mineralógica, densidad) y las condiciones en que se
hizo la difracción (información bibliográfica). Hasta el 2005 este archivo contenía
diagramas de más de 477000 materiales de referencia. Las bases de datos están
disponibles en CD-ROM.
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Si la muestra contiene dos o más compuestos cristalinos, la identificación se hace más
difícil. En este caso se utilizan varias combinaciones de las líneas más intensas hasta
encontrar una coincidencia.
Los materiales producen picos de difracción cuyas anchuras se relacionan con el tamaño
de los cristales. Los materiales con cristales muy desarrollados producen picos bien
definidos, y los menores a 1 µm generan picos de difracción anchos y hasta domos.
1.3. Difracción de Rayos X, aplicable en:
- Identificación y cuantificación de minerales.
- Análisis de arcillas.
- Determinación de estructura atómica y fases en aleaciones.
- Reflectometría de Rayos X
- Análisis de cristalinidad en polímeros.
- Análisis de películas delgadas.
- Determinación de parámetros de red.
2. Análisis Metalográficos
El análisis metalográfico es el estudio microscópico de las características estructurales de
un metal o aleación. Es posible determinar el tamaño de grano, y el tamaño, forma y
distribución de varias fases e inclusiones que tienen efecto sobre las propiedades
mecánicas del metal. El estándar más común para el análisis metalográfico es el ASTM E-
3. Las probetas utilizadas en esta prueba son de varias formas y tamaños mientras puedan
ser colocadas en la platina del equipo. La metalografía es esencialmente, el estudio de las
características estructurales o de constitución de un metal o una aleación para relacionar
ésta con las propiedades físicas y mecánicas. Sin duda alguna, la parte más importante
de la metalografía es el examen microscópico de una probeta adecuadamente preparada,
empleando aumentos que, con el microscopio óptico, oscilan entre 100 y 2000
aumentos, aproximadamente. Mediante ellos se pueden definir características
estructurales, como el tamaño de grano, con toda claridad; se puede conocer el tamaño,
forma y distribución de las fases que comprenden la aleación y de las inclusiones no
metálicas, así como la presencia de segregaciones y otras heterogeneidades que tan
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profundamente pueden modificar las propiedades mecánicas y el comportamiento
general de un metal.
El procedimiento para llevar a cabo una metalografía.
Corte del Material, la orientación de la superficie a examinar es de suma importancia, ya
que de acuerdo al corte que se realice sobre el material, la estructura se podrá observar
de diferente manera. El método para cortar debe ser aquel que minimice la deformación
y el calentamiento del área de corte, ya que en ambos casos podría afectar la superficie
que se examina.
Esmerilado, se realiza para remover todo el material o imperfecciones que quedan sobre
el corte, esto es con el fin de dejar un área totalmente plana, además se usa una serie de
lijas para complementar esta operación, es importante señalar que el proceso se debe
realizar de la lija más gruesa a las delgadas y siempre utilizando agua como refrigerante
sobre el material, con el fin de evitar algún cambio micro estructural del material debido
al calor.
Encapsulamiento, el material debe ser montado sobre un material químicamente inerte
respecto al material que se analiza, las temperaturas en las que se lleva a cabo el proceso
de montar el material no deben afectar a la estructura del mismo, por lo general el
material es montado en baquelita.
Forma de pulir el material, con el paso del tiempo, esta operación ha ido sofisticándose
día con día, en la actualidad existe maquinaria para realizar la operación de forma
automática, sin embargo el principio es el mismo, la pieza a examinar debe de contar con
un acabado superficial excelente (Pulido espejo), esto se logra mediante la utilización de
un abrasivo fino, usualmente alúmina la cual se coloca sobre un disco rotatorio cubierto
de un paño y ejerciendo la presión correcta entre la pieza y el paño se logra el acabado
deseado.
El ataque del material, consiste en utilizar un agente químico que reaccione con la
superficie a examinar, este es el paso de mayor importancia durante la metalografía, ya
que, si el agente no es el indicado, no se podrán observar las características deseadas
sobre la pieza, la selección del agente químico varía según el material y sus características.
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Observación metalográfica, finalmente, las muestras se llevan a un microscopio óptico y
se observan a diferentes aumentos. Si el interés es observar la microestructura en forma
macro, se puede observar a 50X o 100X, pero si se quieren observaciones con mayor
detalle, se pueden usar desde 200 hasta 2000X en un microscopio óptico y hasta 100000X
y más en microscopios electrónicos de barrido y de transmisión.
En conclusión, el ensayo de metalografía nos ayuda a identificar las diferentes estructuras
del acero y relacionarlas con las propiedades físicas y mecánicas. Es necesario tener un
patrón base (folleto) de las estructuras para poder compararlas y determinar a qué tipo
de microestructura corresponde. Para que la prueba se realice de manera adecuada y de
resultados correctos es necesario una buena preparación de la probeta.
3. Espectrometría
La espectrometría es la técnica espectroscópica para determinar la concentración o la
cantidad de especies. En estos casos, el instrumento que realiza tales medidas es un
espectrómetro o espectrógrafo.
La espectrometría a menudo se usa en física y química analítica para la identificación de
sustancias mediante el espectro emitido o absorbido por las mismas.
La espectroscopia es una técnica instrumental ampliamente utilizada por los físicos y
químicos para poder determinar la composición cualitativa y cuantitativa de una
muestra, mediante la utilización de patrones o espectros conocidos de otras muestras.
3.1. Según la naturaleza de la excitación medida.
El tipo de espectrometría depende de la cantidad física medida. Normalmente, la
cantidad que se mide es una intensidad de energía absorbida o producida. Se pueden
distinguir estos tipos de espectrometría según la naturaleza de la excitación:
- Electromagnética. Interacciones de la materia con radiación electromagnética
como la luz.
- De electrones. Interacciones con haces de electrones. La espectroscopia Auger
implica inducir el efecto Auger con un haz de electrones. En este caso la medida
implica la energía cinética del electrón como variable.
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- De masa. Interacción de especies cargadas con campos magnéticos y/o eléctricos,
dando lugar a un espectro de masas. El término "espectroscopia de masas" está
anticuado, ya que la técnica es principalmente una forma de medida, aunque
produzca realmente un espectro para la observación. Este espectro tiene la masa
(m) como variable, pero la medida es esencialmente de la energía cinética de la
partícula.
- Acústica. Frecuencia de sonido.
- Dieléctrica. Frecuencia de un campo eléctrico externo.
- Mecánica. Frecuencia de un estrés mecánico externo, por ejemplo, una torsión
aplicada a un trozo de material.
3.2. Según el proceso de medida.
La mayoría de los métodos espectroscópicos se diferencian en atómicos o moleculares
según si se aplican a átomos o moléculas. Junto con esta diferencia, se pueden distinguir
los siguientes tipos de espectrometría según la naturaleza de su interacción:
- De absorción. Usa el rango de los espectros electromagnéticos en los cuales una
sustancia absorbe. Incluye la espectrometría de absorción atómica y varias
técnicas moleculares, como la espectrometría infrarroja y la resonancia
magnética nuclear (RMN).
- De emisión. Usa el rango de espectros electromagnéticos en los cuales una
sustancia irradia (emite). La sustancia primero debe absorber la energía. Esta
energía puede ser de una variedad de fuentes, que determina el nombre de la
emisión subsiguiente, como la luminescencia. Las técnicas de luminescencia
moleculares incluyen la espectrofluorimetría.
- De dispersión. Mide la cantidad de luz que una sustancia dispersa en ciertas
longitudes de onda, ángulos de incidencia y ángulos de polarización. El proceso
de dispersión es mucho más rápido que el proceso de absorción/emisión. Una de
las aplicaciones más útiles es la espectroscopia Raman.
3.3. Aplicaciones del Análisis Espectral
El análisis espectral centra sus aplicaciones en dos campos principalmente:
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- Análisis químico: Puesto que el espectro de un elemento determinado es
absolutamente característico de ese elemento, el análisis espectral permite
estudiar o identificar la composición y la estructura de las moléculas.
- Aplicaciones astrofísicas: La distancia a la que puede situarse un espectroscopio
de la fuente de luz es ilimitada, lo que permite que el estudio espectroscópico de
la luz de las estrellas permita un análisis preciso de su estructura, especialmente
en el caso del Sol.
Los métodos espectroscópicos están basados en la interacción radiación
electromagnética - materia. Encontramos con que la materia puede estar en forma de:
átomos libres o moléculas.
La espectroscopia es el estudio e interpretación de los espectros. Cuando podemos medir
algo dentro de un espectro estamos en la espectrometría.
Podemos distinguir aquí:
1.- Espectrografía. Cuando el espectro se recoge en una placa fotográfica
2.- Espectrofotometría. Cuando se miden variaciones de intensidad.
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