UNIVERSIDAD NACIONAL DE SAN AGUSTÍN

FACULTAD DE INGENIERÍA DE PROCESOS

ESCUELA PROFESIONAL DE INGENIERÍA DE
MATERIALES

TRABAJO DE INVESTIGACIÓN FORMATIVA

DIFRACTOGRAMA DE RAYOS X DEL

COBRE
Presentado por los Alumnos:
ARCANA GONZALES, ALLISON
IDME RAMOS LILIANA KAREN
QUICO CALSIN ANTONY YOEL
ROJAS MARIGORDA ERICK LUCCIANO
SANCHEZ COLLQUE, RAFAEL ANTHONY

Docente:
DR. MARCELO RODRIGUEZ VALDIVIA

AREQUIPA – PERÚ
2020
 INTRODUCCIÓN

Debido a las nuevas exigencias de calidad y velocidad de la producción en la industria,

son cada vez mayores los requerimientos sobre los materiales involucrados en los
procesos productivos. Los nuevos materiales no solo deben demostrar buenas
propiedades particulares, sino que deben conjugar características sobresalientes de
distintas naturalezas, ya sean mecánicas, eléctricas, magnéticas, ópticas u otras. Este es
el caso, por ejemplo, de los electrodos de soldadura por resistencia, los que, junto con
tener una alta conductividad, deben soportar las presiones y ser estables a las altas
temperaturas de trabajo. El material más usado para aplicaciones como la antes
mencionada es el cobre, el cual presenta una excelente conductividad eléctrica y
relativamente bajo costo. Lamentablemente, al ser sometido a presiones a altas
temperaturas este material experimenta fenómenos de creep.
Con el fin de lograr una mejor compresión de los comportamientos y las características
que ofrece un material, se hace necesario evidenciar las relaciones que conlleva la
estructura cristalina, propiedades y el procesamiento del mismo.
Debemos de tener en cuenta por ende el análisis de dicho material con una técnica o varias
técnicas para poder detectar la presencia de distintas fases cristalinas presentes y así poder
llegar a conclusiones más detalladas del comportamiento del cobre en diferentes
situaciones de trabajo o para un estudio más complejo.
La técnica de Difracción de Rayos X o DRX es un método utilizado principalmente para
detectar lo anteriormente nombrado además de detectar otros rasgos microestructurales.
La técnica consiste en bombardear la muestra a estudiar con un haz de rayos x de longitud
de onda λ, variando el ángulo de incidencia de los rayos en la muestra, θ. Además de las
faces presentes el análisis DRX permite conocer otros rasgos microestructurales, tales
como tamaño de cristalita, micro deformaciones, fallas de apilamiento, densidad de
dislocaciones y otros defectos cristalinos para así poder tener información para otros
estudios. Teniendo en cuenta ello la principal característica del cobre, en relación a la
difracción de rayos x es que tiene un empaquetamiento FCC, lo cual determina en gran
medida las características del difracto grama que de él se obtiene y podremos verificar en
los gráficos y formulas.
Dado que debemos de tener en cuenta que el cobre es un material con varias aleaciones
conllevamos el estudio de DRX para este material y así poder entender estos rasgos que
lo lleva a ser un material tan comercial y beneficioso para la industria.
 OBJETIVOS GENERALES:
 Realizar la difracción de Rayos x o DRX del cobre
OBJETIVOS ESPECIFICOS:
 Conocer la técnica de Difracción de Rayos X o DRX
 Hallar los planos de difracción, las distancias interplanares y el parámetro de red
“a” del cobre
 Aplicar la ley de Bragg con los datos obtenidos de la difracción de Rayos X
 DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS
Cuando tenemos una estructura cristalina de un material es importante saber que tipo de
estructura sigue y las distancias interatómicas que presenta, para ello hacemos uso de la
difracción de rayos x; esta técnica es indirecta porque no medimos directamente las
distancias interplanares, sino hacemos uso de la ley física para obtenerlas.
Se explicará lo siguiente:
 Difracción
 Ley de Bragg
 La difracción de rayos x
 Reglas de determinación de estructuras cristalinas
DIFRACCIÓN
La difracción es un fenómeno característico de las ondas. Esto se puede observar cuando
la onda pasa a través de una rejilla cuyo tamaño es aproximadamente su longitud de onda.
Para comprender este fenómeno, podemos comparar el comportamiento de las ondas con
el comportamiento de las partículas en el mismo experimento. Simplificar. Usaremos una
rejilla con solo dos costuras. Las figuras 1 y 2 muestran los resultados que obtendremos
si rociamos partículas u ondas sobre él. respectivamente.
FIGURA 1.
De las partículas que atraviesen la rejilla. algunas lo harán parla rendija  y otras por la
. La cuna de distribución producida en la pantalla de detección por las partículas que
atraviesan por la rendija , está acampanada debido a que el haz de partículas es
dispersado parcialmente por choque con los laterales de la rendija. La forma exacta de las
curvas de la rendija , de la rendija  y total + puede diferir de las representadas,
dependiendo de la distancia entre rendijas y otras variables: pero lo importante a que la
cantidad de partículas que inciden en cada punto de la pantalla detectora a la suma de las
que incidirían si sólo estuviera abierta la rendija  más las que lo harían si sólo lo
estuviera la .

FIGURA 2
En el caso de realizar el mismo experimento con una onda. observaríamos que la onda
original se dispersa en cada rendija. pareciendo que se origina en ella. Si tapamos una
rendija cada vez. encontraríamos las distribuciones  y : pero ahora la cuna de
distribución +que se encuentra cuando ambas rendijas están abiertas no es la suma
de la cuna  más la . La razón es que hay puntos. corno los marcados con círculos
negros. donde las dos ondas están en fase y se suman (Interferencia constructiva). pero
hay otra. como los marcados con círculos blancos. en los que las dos ondas están en
contratase y se anulan (Interferencia destructiva)
El fenómeno de interferencia de las ondas dispersadas por cada rejilla se conoce con el
nombre de difracción.

LEY DE BRAGG

Por tanto: 𝑛𝜆 = 2𝑑 𝑠ⅇ𝑛 𝜃

Donde d es el espaciado entre planos atómicos adyacentes y 𝜃 se conoce generalmente
como ángulo de Bragg, y el ángulo 2 𝜃 como ángulo de difracción, ya que éste es el
ángulo medido experimentalmente.

La magnitud del espaciado interplanar (d) es una función directa de los índices de Miller
del plano. En el caso del sistema cúbico la relación es bastante simple donde a es el
parámetro de la red (longitud del lado de la celda unidad).
𝑎
𝑑ℎ𝑘𝑙 =
√ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2
En el caso de que la celda unidad presente formas más complejas, la relación es más
complicada. Para el sistema hexagonal, donde a y c son los parámetros de red.
 𝑎
𝑑ℎ𝑘𝑙 =
4 𝑎2
√ (ℎ2 + ℎ𝑘 + 𝑘 2 ) + 𝑙 2 ( 2 )
3 𝑐
La ley de Bragg es una condición necesaria pero no suficiente para que se produzca
difracción. Define la condición de difracción para celdas unidad primitivas, esto es,
aquellas redes de Bravais con puntos reticulares sólo en los vértices de la celda unidad,
como la cúbica simple y la tetragonal simple. Las estructuras cristalinas con celdas unidad
no primitivas tienen átomos en puntos reticulares adicionales situados a lo largo de las
aristas, en las caras o en el interior de la celda unidad.
Los centros de dispersión adicionales pueden provocar difracción fuera de fase para
ciertos ángulos de Bragg. El resultado es que parte de la difracción que predice la
Ecuación de Bragg no tiene lugar.

LA DIFRACCIÓN DE RAYOS X
Para los rayos X, los átomos constituyen centros de dispersión. El mecanismo de
dispersión específico es la interacción de un fotón de la radiación electromagnética con
un orbital electrónico del átomo. El cristal actúa como una red de difracción
tridimensional. El apilamiento repetitivo de los planos cristalinos realiza la misma
función que las estrías paralelas de la placa de vidrio. Para que tenga lugar la difracción,
los haces de rayos X dispersados por planos adyacentes del cristal deben estar en fase. De
otra forma, tiene lugar una interferencia destructiva de las ondas y no se observa
prácticamente ninguna intensidad dispersada. Cuando se da la geometría precisa para que
se produzca una interferencia constructiva (las ondas dispersadas están en fase), la
diferencia de camino recorrido por haces de rayos X adyacentes debe ser un número
entero (n) de longitudes de onda (λ).

REGLAS DE DETERMINACIÓN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS

Cada punto luminoso en la película es una solución a la ley de Bragg y representa la
difracción de un haz de rayos X (con una cierta longitud de onda, x) por un plano cristalino
(hkl) orientado a un cierto ángulo 𝜃.

En la FIGURA 3 se puede ver un espectro de difracción de una muestra de polvos de

aluminio. Cada pico representa una solución a la ley de Bragg. Como el polvo está
constituido por muchos granos cristalinos de pequeño tamaño orientados aleatoriamente,
se emplea una radiación con una única longitud de onda.

FIGURA 3
 A) LOS TRES PRIMEROS PLANOS QUE PRODUCEN DIFRACCIÓN

La estructura cristalina del

Cobre (Cu) es Cubica Centrada
en las Caras (CCC)

 Los planos que producen difracción son aquellos que bien todos son pares o todos
son impares; es decir hacemos una lista con todos los posibles planos que
producen infracción.
 Como podemos observar en el cuadro.

h k l
1 0 0 X

1 1 0 X

1 1 1 ✔

2 0 0 ✔

2 1 0 X

2 1 1 X

2 2 0 ✔

B) LAS DISTANCIAS INTERPLANARES

Para poder calcular las distancias interplanares debemos conocerlos valores de los picos
o ángulos y el valor de “𝜆”que en este caso valdrá:
Picos o Ángulos:

43.3
50.4
74.1
Valor de 𝜆:

𝜆 = 1.5405 𝑚𝑚
Además, los datos que hemos obtenido de los difractogramas de rayos x han sido los
siguientes

(𝒉 𝒌 𝒍) 𝟐𝜽 𝜽

(1 1 1) 43.3 21.5
(2 0 0) 50.41 25.205
(2 2 0) 74.1 37.05

Para obtener la fórmula que halle la distancia interplanar debemos despejar la siguiente
ecuación

𝑛𝜆 = 2𝑑𝑠ⅇ𝑛𝜃
𝑛𝜆
𝑑=
2𝑠ⅇ𝑛𝜃
1(1.5405 𝑚𝑚)
𝑑=
2𝑠ⅇ𝑛𝜃
 𝜽 = 21.5
1(1.5405 𝑚𝑚)
𝑑=
2𝑠ⅇ𝑛(21.5)
𝑑 = 2.1016
 𝜽 = 25.205
1(1.5405 𝑚𝑚)
𝑑=
2𝑠ⅇ𝑛(25.205)
𝑑 = 1.8087

 𝜽 = 37.05
1(1.5405 𝑚𝑚)
𝑑=
2𝑠ⅇ𝑛(37.05)

𝑑 = 1.2783
Entonces la distancia interplanar en cada punto seria las siguientes:

(𝐡 𝐤 𝐥) 𝟐𝜽 𝜽 d(mm)
(1 1 1) 43.3 21.5 2.1016
(2 0 0) 50.41 25.205 1.8087
(2 2 0) 74.1 37.05 1.2783

C) EL PARAMETRO DE RED “A”

En las estructuras cubicas hay una relación sencilla entre el parámetro de red “a”,
la distancia interplanar y los índices de Miller de un plano considerado.

𝑎
𝑑(ℎ𝑘𝑙) =
√ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2

𝑎
 𝑑(111) =
√12 +12 +12
𝑎
𝑑(111) =
√3
𝑎
2.1016 =
√3
𝑎 = 3.6

𝑎
 𝑑(200) =
√22 +02 +02
𝑎
𝑑(200) =
√4
𝑎
1.8087 =
2
𝑎 = 3.6

𝑎 𝑎
 𝑑(220) = =
√22 +22 +02 √8
𝑎
𝑑(220) =
√8
𝑎
1.2783 =
√4
𝑎 = 3.6
 RESULTADOS
TABLA Nº1 DISTANCIA INTERPLANARES
PLANOS DISTANCIA
(h;k;l) (mm)
(1;1;1) 2,1016
(2;0;0) 1,8087
(2;2;0) 1,2783

GRÁFICA 01: DISTANCIA INTERPLANARES

INTERPRETACIÓN:
Podemos apreciar con respecto al resultado de las distancias interplanares, que a pesar
de que sean distintas, las tres producen difracción de rayos x en el cobre.
 TABLA Nº2 PARÁMETRO DE RED
PLANOS a
(h;k;l) (mm)
(1;1;1) 3.6
(2;0;0) 3.6
(2;2;0) 3.6

GRÁFICA 02: PARÁMETRO DE RED

INTERPRETACIÓN:
En este caso podemos apreciar que el parámetro de red se mantiene y es igual para los
tres planos, debido a que se produce en un sistema cristalino.

CONCLUSIONES
 Dimos a conocer la técnica de Difracción de Rayos X o DRX junto con algunas
definiciones de difracción, la ley de Bragg y las reglas de determinación de
estructuras cristalinas.
 Hallamos los planos de difracción, las distancias interplanares y el parámetro de
red “a” del cobre.
 Posteriormente, aplicamos la ley de Bragg con los datos obtenidos de la difracción
de Rayos X
 En conclusión, realizamos la difracción de Rayos X o DRX del cobre.
 BIBLIOGRAFIA

 James F. Shackerlford “Introduccion a la Ciancia de Materiales para Ingenieros”.

Cuarta edicion . Ed. Prentice Hall (1998)
 Técnicas - Difracción de Rayos X - Caracterización de Materiales Cristalinos.
(2020). Ehu.Eus. http://www.ehu.eus/imacris/PIE06/web/DRXP.htm
 Pérez, José.(2007). Difracción de rayos X. Introducción.
https://www.upct.es/~minaeees/difraccion_rayosx.pdf
 Federico Núñez, Rosa Adela. (2008). Hacia las sociedades del
conocimiento. Revista de la educación superior, 37(147), 165-173. Recuperado
en 26 de diciembre de 2020, de
http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0185-
27602008000300012&lng=es&tlng=es
 Busquets Mataix David Jeronimo, 21 de septiembre 2011, Aplicación de la ley de
Bragg, Recuperado de:
https://www.youtube.com/watch?v=JuaEh6WjRiw&t=147s