DETERMINACIÓN DE LA COMPOSICIÓN DE

MATERIALES MEDIANTE LA
FLUORESCENCIA DE RAYOS X
Grupo 2

Franchino Viñas, S. A. Hernández Maiztegui, F.

f [email protected] f [email protected]
Muglia, J. Panelo, M. Salazar Landea, I.
juan [email protected] [email protected] [email protected]

Dto. De Fı́sica - Facultad de Cs. Exactas - Universidad Nacional de La Plata

Resumen
En 1906 Charles Barkla observó que la incidencia de rayos X sobre los materiales ocasionaba
la generación de radiación X secundaria[1] . Además, esta última es caracterı́stica de los elementos
contenidos en el material, sin importar cuál es el compuesto que conforman. Teniendo en mente
esas ideas, hacemos incidir radiación proveniente de una fuente de 241 Am sobre una muestra;
luego, analizando el espectro de emisión de rayos X obtenido mediante un diodo PIN de silicio
comercial, determinamos los elementos que constituyen al material utilizado.

1. Introducción
En 1895, Wilhelm Conrad Röntgen[1],[2] descubrió una radiación que podı́a “atravesar” la materia
orgánica: por su naturaleza desconocida le da el nombre de rayos X. Rápidamente, debido a sus
propiedades particulares, los rayos X se convirtieron en tema de estudio de avanzada de las principales
universidades de Europa. Tanta relevancia adquirió el tema, que el primer premio Nobel de fı́sica, el
de 1901, fue entregado a Röntgen por su descubrimiento.
Fue Charles Glover Barkla[1],[3] quien, en 1906, cuando todavı́a no se conocı́a con certeza si los
rayos X correspondı́an a radiación electromagnética, llevó a cabo experimentos en los que diferentes
materiales, al ser sometidos a radiación X, emitı́an radiación X secundaria caracterı́stica. Es por esta
contribución, que recibió el premio nobel de fı́sica de 1917.
Sin embargo, la espectroscopı́a X alcanza su máximo esplendor de la mano de otro nobel, Manne
Siegbahn[1],[4] , quien en 1923 publica el libro “Spektroskopie der Röntgenstrahlen”. Es en ese libro
donde incluye una descripción casi completa de las energı́as y condiciones de radiación de los distintos
elementos, con una precisión en sus números aceptable incluso hoy en dı́a.
Además, los desarrollos en la mecánica cuántica a la fecha, permitieron comprender la naturaleza
de esas emisiones secundarias de rayos X: el hecho de que la energı́a de esta radiacón sea del orden de la
de los electrones en sus “órbitas” es lo que provoca la emisión secundaria, mientras que la cuantización
de las energı́as permitidas para los electrones en un átomo se relaciona con la existencia de un espectro
discreto.
En este trabajo, determinamos los elementos componentes de materiales desconocidos registrando,
con un detector basado en un diodo PIN de silicio, la fluorescencia de rayos X generada al colocarlos
frente a una fuente de 241 Am.

Fundamentos Fı́sicos: Fluorescencia de Rayos X

En general, cuando incide radiación sobre un trozo de materia, los fotones interaccionan con los
átomos de manera diversa. Lo más probable es que dicha interacción se produzca con un electrón,

1
que, según la mecánica cuántica, puede tener sólo ciertos valores de energı́a de ligadura con el átomo.
Un fotón incidente puede provocar la eyección de un electrón del átomo si posee la energı́a
suficiente[5] . En el caso de que el electrón corresponda a una capa externa del átomo, la interac-
ción predominante es la del efecto Compton; para un ángulo ϕ dado respecto de la radiación incidente
en el material, se detecta un incremento en la longitud de onda de los fotones (∆ λ) relacionado con
la velocidad c de la luz en el vacı́o, la masa me del electrón y la constante de Planck h:
h
∆λ = (1 − cos ϕ) (1)
me c
Por otra parte, si el electrón corresponde a una capa interior del átomo, se produce un hueco en
la extructura electrónica de este último. El resultado es, en un principio, un átomo excitado y, luego,
el llenado del hueco con un electrón de algún nivel superior. Lo más común, es que el electrón que
llena el lugar vacante no provenga de la última capa; entonces, el átomo continúa excitado mientras
se repite el mismo proceso de desexcitación hasta que el hueco queda en la última capa y es llenado
por un electrón del medio.
En cada paso de desexcitación, la energı́a se conserva ya sea mediante la emisión de un fotón o
de un electrón de una capa externa (electrón auger), con energı́a igual a la perdida por el electrón.
Experimentalmente se ha encontrado que el primer caso se da generalmente para átomos pesados,
mientras que el último es más probable para los de peso atómico menor a 20.
Dado que cada átomo posee una estructura de niveles de energı́a de electrones caracterı́stica, los
fotones emitidos en el llenado de los huecos permiten su identificación.

1.1. Notación de espectroscopı́a X

De acuerdo a la notación de Siegbahn1 , se llama lı́neas de la serie K a la radiación emitida por
el llenado de un hueco en la capa K (primera capa o n=1), de la serie L al llenado de la L (n=2),
etc.; además, de acuerdo al nivel del cual procede el electrón que ocupa el espacio vacı́o, se le agrega
una letra griega como subı́ndice: si proviene de la capa L, recibe el nombre Kα , de la capa M, Kβ , y
ası́ sucesivamente.

Tabla 1. Tabla de equivalencias entre las notaciones de Siegbahn y la recomendada por la IUPAC[6] .

1 En este trabajo, por más que la notación recomendada por la IUPAC sea más diáfana, utilizamos la de Siegbahn

por ser la de uso común.

2
 Para introducir el segundo subı́ndice, conviene utilizar la equivalencia entre la notación IUPAC y
la de Siegbahn (Tabla 1 ). El único subı́ndice de la primera notación, crece para una misma capa a la
vez que aumenta la energı́a del nivel, según se puede apreciar en la Tabla 2.
Notación IUPAC n l j
K1 1 0 1/2
L1 2 0 1/2
L2 2 1 1/2
L3 2 1 3/2
M1 3 0 1/2
M2 3 1 1/2
M3 3 1 3/2
M4 3 2 3/2
M5 3 2 5/2
N1 4 0 1/2
N2 4 1 1/2
..
.

Tabla 2. Notación recomendada pr la IUPAC.

Es apropiado mencionar que existen reglas de selección que establecen las transiciones posibles
de un electrón entre dos niveles de energı́a; ellas requieren que el spin total (j) de dicha partı́cula se
modifique en 0 ó ± 1 y el número l asociado a la cuantización del momento angular en ± 1:

∆l = ± 1
∆j = 0, ± 1
Finalmente, en la Tabla 1 se incluye la intensidad relativa de la lı́neas de emisión, o lo que es
equivalente, la probabilidad relativa de los diferentes saltos que pueden ocurrir para el llenado de un
subnivel. Vale la pena observar que, en general, la probabilidad de que un electrón llene un hueco es
mayor cuanto más cerca se encuentre de él, energéticamente hablando.

2. Procedimiento Experimental
El proceso llevado adelante para la obtención de los datos es el siguiente: hacemos incidir radiación
de una fuente de 241 Am sobre el material deseado, y detectamos parte de la secundaria que este último
emite, mediante un detector formado por un diodo PIN de silicio. Los pulsos generados por el detector
se transmiten a un amplificador que, a su vez, se encuentra conectado a un contador multicanal. La
geometrı́a del dispositivo se observa en la Figura 1 y su objetivo es lograr que la radiación que llega
al detector provenga de la muestra; el ángulo ϕ es mayor a 135o .

Figura 1. Cristal centelleador y tubo fotomultiplicador.

3
 El modelo del detector empleado es XR-100T de Amptek[7] . La radiación que ingresa a su interior,
a través de una ventana de Berilio2 , interacciona con un diodo PIN: un diodo compuesto por una
región amplia de semiconductor intrı́nseco3 entre las zonas de semiconductores tipo P (silicio dopado
con indio) y N (silicio dopado con fósforo).
Como resultado de esa interacción, una cantidad de electrones de la región intrı́nseca proporcional
a la energı́a de la radiación incidente, es excitada de la banda de valencia a la banda de conducción:
los fotones pierden en promedio 3,62 eV por electrón para realizar tal excitación, de manera que si
siempre pierden toda su energı́a se cumple dicha relación lineal[6] .
Estos electrones y los huecos de carga positiva que dejan en la banda de valencia, hacen que el
cristal se transforme momentáneamente en conductor. Una diferencia de potencial de 100 V, aplicada
inversamente entre los extremos del diodo, provoca que los electrones y los huecos rápidamente se
dirijan hacia las junturas correspondientes4 e induzcan una señal en un FET. Luego, existe una etapa
de preamplificación de esa señal dentro del detector XR-100T y una amplificación externa lograda con
el amplificador y fuente de alimentación PX2CR, también de Amptek.
En la salida del amplificador, conectada al analizador multicanal, se generan señales con valores
entre 0 y 10 V en buena medida proporcionales a la energı́a de la radiación detectada. Por su parte,
el multicanal divide el intervalo de 0 a 10 V en 1024 subintervalos o canales, y cuenta las señales
recibidas correspondientes a cada uno de ellos.
Posteriormente, una vez que colocamos el detector, la muestra (arena negra o un trozo de metal)
y la fuente de radiación de la forma mostrada en la Figura 1, realizamos mediciones de 30 s de tiempo
real5 . Obtenemos, finalmente, gráficos que indican la cantidad de fotones detectados en función del
número de canal que, recordamos, es proporcional a la energı́a inicial de esos fotones.

3. Resultados y Discusión
3.1. Calibración
Para poder encontrar la relación lineal entre la energı́a detectada por el diodo PIN y el canal
asignado por el analizador multicanal, realizamos mediciones de calibración usando como muestra
lı́neas de emisión conocidas: fluorescencia X de un trozo de plomo y radiación emitida en el proceso
de desintegración del 241 Am y 57 Co. De esta forma, realizamos gráficos del número de cuentas en
función del canal para los tres procesos, y usamos bases de datos de energı́as de decaimiento de niveles
energéticos para determinar a qué energı́as correspondı́an los principales picos en los gráficos. Las
incertidumbres siempre corresponden a la última cifra decimal; no las incluı́mos en los gráficos para
facilitar la visión.
2 El propósito de esta ventana es filtrar radiación de bajas energı́as, principalmente la visible que de otra manera

ocasiona un ruido en las medidas. El grosor de la ventana es de 25 µm y tiene un coeficiente de transimisión de 10 %

,70 % y 95 %, para radiación de 1000, 2000 y 5000 keV respectivamente.
3 Esta región está compuesta de silicio dopado con indio, de manera que tenga una resistencia alta.
4 A temperatura ambiente, este voltaje produce una corriente de fuga muy grande o incluso el efecto de avalancha. Es

por ello que se utiliza un sistema de refrigeración basado en el efecto Peltier: una corriente circulando por el punto de
contacto de dos metales diferentes, genera una diferencia de temperatura entre ese punto y los otros extremos de estos.
5 El tiempo real es el que se registra con un reloj; la existencia de un tiempo denominado muerto y relacionado con

el intervalo durante el cual el dispositivo no puede procesar información por su forma de procesar otra anteriormente
recibida, hace necesaria esta acotación.

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Gráfico 1. Cuentas en función del número canal para la muestra de 241 Am. Determinamos sólo los valores de energı́a
de los máximos más importantes; ellos corresponden a las lı́neas del 237 N p elemento al que decae el 241 Am.

Gráfico 2. Cuentas en función del número de canal para el plomo.

5
 Gráfico 3. Cuentas en función del número de canal para el 57 Co. El tercer máximo corresponde a una lı́nea de
energı́a de ese elemento. Los otros dos pertenecen al hierro, elemento al que el 57 Co decae.

Con estos datos, podemos realizar un gráfico de los máximos de energı́a encontrados en función del
canal que les fue asignado por el analizador multicanal. Al ajustar linealmente dicho gráfico, tenemos la
dependencia buscada entre energı́a y canal. Despreciamos las incertidumbres en los valores de energı́a:
sólo tomamos en cuenta la dispersión de los datos, de acuerdo a las incertidumbres en la aproximación
de la distribución de puntos a una recta por el método de cuadrados mı́nimos.

Gráfico 4. Ajuste lineal de energı́a en función de canal con los puntos encontrados.
Se ajustó a una recta de la forma: E = a C + b, donde:
a = (0, 0285 ± 0, 0002) keV
b = (−0, 4 ± 0, 1) keV
Reduced χ2 = 0, 009

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3.2. Estudio del gráfico de fluorescencia de la sustancia problema
Con la calibración expuesta arriba podemos entender a qué energı́as corresponden los máximos de
un gráfico de fluorescencia de los distintos elementos que componen la arena negra. De esa manera,
podemos realizar el Gráfico 5 de cuentas en función de la energı́a.

Gráfico 5. Gráfico de cantidad de fotones detectados en función de la energı́a de decaimiento que traı́an. Los cuados
rojos dividen las distintas zonas que se estudiarán más adelante por separado.

El gráfico posee ciertos picos de energı́a de fácilmente identificables, pero para encontrar otros
debemos hacer una observación más minuciosa, ya que algunos de ellos se confunden con la radiación
de fondo presente.
Al encontrar un pico, comparamos el valor de la energı́a con los existentes en las tablas de
Bearden[8] , que detalla las energı́as de llenado de huecos para todos los elementos de la tabla pe-
riódica.
Para cada pico, tomamos un intervalo de confianza del 20 % alrededor del valor de energı́a corres-
pondiente. Entonces, buscamos todos los valores de energı́a de la radiación de fluorescencia que caen
dentro de ese intervalo, y estudiamos las posibilidades de que los fotones detectados provengan de
alguno de esos elementos:

varias lı́neas de energı́a de un mismo elemento deberı́an aparecer en el gráfico, ya que distintas
moléculas de un mismo material se pueden excitar de maneras diferentes, produciendo cada una
su correspondiente transición electrónica;
las lı́neas de transición tienen diferentes intensidades de acuerdo a lo expuesto en la sección
Notación de espectroscopı́a X ;
por último, usando sentido común, consideramos poco probable que ciertos elementos estuvieran
en la arena, por tratarse de elementos sintetizados de poca estabilidad como la mayorı́a de los
actı́nidos, o simplemente raros en la naturaleza, como el Pt, el Ra o el Rb.

En los Gráficos 6 y 7 realizamos acercamientos a las distintas secciones del Gráfico 5, indicando
los máximos seleccionados y los elementos y la lı́nea de fluorescencia X a los que los asociamos. Los
gráficos no conservan todos la misma escala.

7
 Gráfico 6. Acercamiento de la zona 1 del gráfico 5.

En el Gráfico 6 se puede ver que la arena estudiada posee en su composición elementos metálicos,
entre los cuales se destaca el hierro, que puede ser el causante de su color negro. Al lado de cada pico
incluı́mos el valor de su abcisa en el gráfico. Además, agregamos entre paréntesis un segundo número:
la energı́a que de acuerdo a las tablas les corresponde.
Notamos que en general aparecen tanto la lı́nea Kα1 como la Kβ1 de un dado elemento, entonces,
de acuerdo a la Tabla 1, la lı́nea Kα2 deberı́a ser visible. Lo que en realidad sucede es que las lı́neas
Kα1 y Kα2 se confunden debido a la resolución energética del instrumento utilizado.

Gráfico 7. Acercamiento de la zona 2 del gráfico 5.

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 Por otro lado, en el Gráfico 7 observamos radiación correspondiente al 237 N p luego de su inter-
acción por efecto Compton con la arena. Como antes, incluı́mos, en el gráfico, el valor de la abcisa
de los picos y la energı́a tabulada. Sin embargo, hay dos picos de origen desconocido que también se
encuentran en el Gráfico 1 ; para ellos determinamos el número entre paréntesis utilizando los datos
de calibración y el número de canal que les corresponde en el Gráfico 1. Conviene notar que debido
al pequño ángulo de dispersión Compton que corresponde al experimento y la baja energı́a de la
radiación incidente no tiene sentido utilizar una corrección en la energı́a de la radiación por efecto
Compton que estarı́a incluı́da en la incertidumbre de las medidas.
Habiendo hecho tal determinación de la composición de la arena negra, nos resta explicar la
ausencia de lı́neas energéticas del silicio, elemento del que están compuestas la mayorı́a de las rocas
presentes en la superficie del planeta y, en especial, la arena. Para elementos livianos, de número
atómico menor a 16, los fotones provenientes de decaimientos electrónicos poseen energı́as menores a
2 KeV; por ello tienen mucha probabilidad de perder toda su energı́a en choques con los electrones
del medio. La realización de la experiencia con el dispositivo en vacı́o, disminuirı́a este problema y
permitirı́a observar las lı́neas del Si.

4. Conclusiones
Teniendo en cuenta los datos de fluorescencia X de la arena negra y los de calibración, y utilizando
los valores tabulados para la energı́a de llenado de huecos, determinamos en aquella la presencia de
potasio, hierro, nı́quel, cobre y escandio.
Además, los elementos de número atómico menor a 16, no pueden ser detectados ya que, en el
aire, se produce la dispersión de su radiación X caracterı́stica. Proponemos la realización de idéntica
experiencia en una cámara de vacı́o.
Finalmente, el ajuste realizado en la calibración y los picos de radiación para el 237 N p encontrados
en el gráfico para la arena, hablan de la precisión y exactitud del método de medición.

Referencias
[1] AA. VV., Nobel Lectures, Physics 1922-1941, Elsevier Publishing Company (1965).

[2] http://en.wikipedia.org/wiki/Wilhelm Conrad Röntgen

[3] http://en.wikipedia.org/wiki/Charles Glover Barkla

[4] http://en.wikipedia.org/wiki/Manne Siegbahn

[5] Eisberg, R. y Resnick, R., Fı́sica Cuántica, pág. 393, Noriega Editores (1997).

[6] Janssens, K., Comprehensive Analytical Chemistry XLII, pág. 129, Elsevier B. V. (2004).

[7] http://www.fastcomtec.de/fwww/datashee/det/xr100cr.pdf

[8] Bearden, J. A., X-Ray Wavelengths, Rev. Mod. Phys. 39, 78 (1967).