ESCOLA SUPERIOR DE TECNOLOGIA EST

LEONARDO SOARES DE OLIVEIRA

DISTRIBUIO DE WEIBULL

MANAUS, 2013

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LEONARDO SOARES DE OLIVEIRA

DISTRIBUIO DE WEIBULL

Trabalho apresentado como requisito parcial para obteno de aprovao na disciplina Normalizao e Confiabilidade, no Curso de Engenharia Mecnica, na Universidade do Estado do Amazonas. Prof. Antonio Kielling

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SUMRIO
1. Introduo........................................................................................................4 2. Noes bsicas de confiabilidade....................................................................5 2.1 Definio de confiabilidade.......................................................................5 2.1.1 Falha...........................................................................................................5 2.1.2 Modo de falhas...........................................................................................6 2.1.3 Taxa de falhas............................................................................................6 3. Distribuio de Weibull..................................................................................8 3.1 Relao entre os parmetros da distribuio de Weibull...........................9 3.1.1 Parmetro de Forma, ...............................................................................9 3.1.2 Parmetro de Escala, .............................................................................13 4. Concluses....................................................................................................15 5. Referncias...................................................................................................16

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1.

Introduo

O fsico Ernest Hjalmar Wallodi Weibull nasceu no dia 18 de junho de 1887 na Sucia. Ele publicou vrios trabalhos na rea de engenharia dos materiais, inclusive estudos sobre resistncia de materiais, fadiga e ruptura em slidos, e propriedades de esferas e de rolos. A distribuio de probabilidade que leva seu nome foi estudada a partir de seu artigo A Statistical Distribution Function of Wide Applicability, publicada no Journal of Applied Mechanics, em 1951, baseando se nos estudos sobre a resistncia de aos. A distribuio Weibull foi proposta, em 1954, em estudos relacionados ao tempo de falha devido a fadiga de metais. Ela frequentemente usada para descrever o tempo de vida de produtos industriais. A sua popularidade em aplicaes prticas deve-se ao fato dela apresentar uma grande variedade de formas, todas com uma propriedade bsica: a sua funo de taxa de falha montona. Isto , ou ela crescente ou decrescente ou constante. Sua aplicao descreve adequadamente a vida de mananciais, componentes eletrnicos, cermicas, capacitores e dieltricos. Esta distribuio a mais utilizada em estudos de confiabilidade, de entre as funes de densidade de probabilidade existentes, anlise de sobrevivncia e em outras reas devido a sua versatilidade.

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2. Noes bsicas de confiabilidade 2.1 Definio de confiabilidade

Como fora dito em carter introdutrio, a distribuio Weibull extensivamente usada em anlise de confiabilidade e de dados de vida devido a sua versatilidade. De uma maneira geral, a noo de confiabilidade est intuitivamente associada ao grau de certeza (probabilidade) que se tem no bom funcionamento de um produto durante um longo perodo de tempo. Definindo dessa forma, o conceito apresenta uma dificuldade de ordem prtica. Do ponto de vista da engenharia, por exemplo, seria importante poder garantir a confiabilidade de um produto ou a sua melhoria. Essa tarefa, contudo, s seria vivel se o grau de certeza pudesse ser medido de alguma forma aceitvel. Matematicamente, a confiabilidade pode ser expressa como:

t c(t ) = f (t )dt (Eq.1)

0

c(t ) = 1 F (t ) (Eq.2)
Onde: c(t) a confiabilidade; f (t) a funo da densidade de probabilidade (f. d. p.); t o perodo de vida til. O estudo de confiabilidade basicamente pode ser abordado de duas formas: I. Qualitativa, pelo estudo dos modos de falha e suas consequncias para o sistema. a abordagem utilizada na manuteno centrada na confiabilidade. Quantitativa, pela medio de nmero de falhas, tempo de parada e custos associados em manuteno e perda de produo. a abordagem estatstica, no qual o sistema modelado por distribuio de probabilidade de falha, como por exemplo, a distribuio de Weibull.

II.

A partir da anlise de confiabilidade, surgiram alguns outros conceitos complementares que norteiam o uso desta ferramenta.

2.1.1 Falha
Falha o limite da capacidade de um item em desempenhar a funo requerida. Entretanto, o item pode estar desgastado ou ao mesmo tempo avariado e ainda no causar uma falha. A esse fenmeno atribudo o nome de defeito, que significa qualquer desvio de uma caracterstica de um objeto em relao aos seus requisitos. As falhas, para objetivos deste trabalho, so classificadas em duas categorias:

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ESCOLA SUPERIOR DE TECNOLOGIA EST I. Falha funcional: incapacidade de um item de desempenhar uma funo especfica dentro de limites desejados. Tambm conhecida como estado de falha; Falha potencial: condio identificvel e mensurvel que indica uma falha funcional pendente ou em processo de ocorrncia. Muitas vezes se apresenta em forma de defeito.

II.
.

2.1.2 Modo de falhas

Modo de falha um evento ou condio fsica que causa uma falha funcional. Est associado causa da transio do estado normal para o estado anormal. Em geral podem ser divididos em mecnicos, elctricos, estruturais e humanos.

2.1.3 Taxa de falha

A taxa de falha, tambm conhecida como funo de risco, definida pela probabilidade condicional da ocorrncia de falha no intervalo de t a t + dt, dado que no houve falha at o instante t, divido pelo intervalo dt. A funo representada matematicamente por (Eq.3) C (T ) De uma maneira geral, a taxa de falhas pode ser interpretada como a razo entre o nmero de falhas num determinado tempo de vida e o nmero de componentes sujeitos falha. A funo taxa de falha L(t) bastante til para descrever a distribuio do tempo de vida de produtos. Ela descreve a forma em que a taxa instantnea de falha muda com o tempo. A figura 1 mostra quatro funes de taxa de falha, sendo elas:

L(t ) =

f (t )

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Figura 1.

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ESCOLA SUPERIOR DE TECNOLOGIA EST I. Crescente: a taxa de falha aumenta com o tempo. Este o comportamento esperado para produtos ou componentes, mostrando um efeito gradual de envelhecimento; Decrescente: a taxa de falha diminui com o tempo. o comportamento de certos tipos de capacitores e alguns dispositivos semicondutores; Constante: a taxa de falha constante para qualquer valor do tempo. Usualmente caracteriza um perodo do tempo de vida de vrios produtos manufaturados; Banheira: uma combinao entre as trs funes anteriores, sendo em um perodo inicial decrescente, no perodo intermedirio aproximadamente constante, e no perodo final crescente. Acredita-se que a funo de taxa de falha do tipo banheira descreve bem o comportamento do tempo de vida de alguns produtos que so sujeitos, em um perodo inicial, a uma alta taxa de falha (perodo de falhas prematuras) que decresce rapidamente ficando constante em um perodo intermedirio (perodo de vida til) e apresenta no perodo final uma taxa de falha crescente (perodo de desgaste).

II.

III.

IV.

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3.

Distribuio de Weibull

Uma distribuio de probabilidade um modelo matemtico que relaciona um certo valor da varivel em estudo com a sua probabilidade de ocorrncia. H dois tipos de distribuio de probabilidade: I. Distribuies Contnuas: Quando a varivel que est sendo medida expressa em uma escala contnua, como no caso de uma caracterstica dimensional. Distribuies Discretas: Quando a varivel que est sendo medida s pode assumir certos valores, como por exemplo, os valores inteiros: 0, 1, 2, etc.

II.

A distribuio de Weibull se caracteriza por ser uma distribuio contnua, onde sua equao de funo de densidade de probabilidade (f. d. p.) com em 3 parmetros, dada pela expresso abaixo:
1 t t f (t ) = e

(Eq.4)

Onde: t a varivel que define o perodo de vida til podendo ser expresso em distncia percorrida (km), em nmero de ciclos (n) ou em tempo de funcionamento (h); o parmetro de forma, conhecido tambm como inclinao; o parmetro de escala; o parmetro de posio; Nos estudos de engenharia de confiabilidade, o parmetro caracteriza a vida inicial do item sendo, na maioria das aplicaes, desprezado ou seja, =0. Nesses casos, a Eq.4 pode ser simplificada e distribuio fica representada na sua forma bi-paramtrica:

1 t t f (t ) = e

(Eq. 5)

Sendo a confiabilidade de sua distribuio bi-paramtrica dada por:

t c(t ) = 1 f (t )dt (Eq. 6)

0

1 t t t dt c(t ) = 1 e
0

(Eq.7 )

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c(t ) = e

(Eq. 8)

Matematicamente, levando-se em conta a distribuio Weibull biparamtrica, a taxa de falhas descrita por:

t L(t ) =

(Eq.9)

3.1

Relaes entre os parmetros da distribuio Weibull

Um aspecto importante da distribuio Weibull como os valores do parmetro de forma () e de escala () afetam a caractersticas da distribuio, como a forma da curva da f.d.p., da confiabilidade e da taxa de falhas.

3.1.1 Parmetro de Forma,

O parmetro de forma, , da distribuio Weibull conhecido tambm como a inclinao da distribuio Weibull. Isto, porque o valor de igual a inclinao da linha em um grfico de probabilidade. Os diferentes valores do parmetro de forma podem indicar efeitos no comportamento da distribuio. De fato, alguns valores do parmetro de forma faro com que as equaes da distribuio reduzam-se outras distribuies. Por exemplo, quando =1, a f.d.p. Weibull de trs parmetros se reduzir a distribuio exponencial de dois parmetros. O parmetro um nmero puro, isto , adimensional. A figura 2 mostra o efeito dos diferentes valores do parmetro de forma, , na forma do f.d.p (mantendo constante o ). Pode-se ver que a forma da f.d.p. pode tomar uma variedade de formas baseado no valor de .

Figura 2.

Figura 3. Pgina 9

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ESCOLA SUPERIOR DE TECNOLOGIA EST Olhando para mesmas informaes no grfico de probabilidade Weibull, pode-se compreender facilmente porque o parmetro de forma da Weibull conhecido tambm como a inclinao. A figura 3 mostra como a inclinao do grfico de probabilidade Weibull muda com o sendo que, todos possuem o mesmo valor de . Outra caracterstica da distribuio onde o valor de tem um efeito distinto a taxa de falha. A figura 4 mostra o efeito do valor de na taxa de falhas da distribuio Weibull.

Figura 4.

Como indicado pelo grfico, as distribuies Weibull com o <1 tm uma taxa de falha que diminui com tempo, conhecida tambm como falha infantil ou prematura. Nestes casos, do ponto de vista da gesto da de manuteno, no h como se antever tais defeitos ,indicado-se uma manuteno corretiva ou preventiva. A figura 5 mostra a curva de confiabilidade e a curva da taxa de falhas para um componente fictcio cuja probabilidade de falha segue uma distribuio Weibull biparamtrica com = 0,8 e =30.

Figura 5.

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ESCOLA SUPERIOR DE TECNOLOGIA EST Analisando-se a Figura, verifica-se o formato assumido pela distribuio Weibull. Verificase que a frequncia de falhas elevada na vida inicial do componente fazendo que a fiabilidade do mesmo decresa de forma acelerada neste mesmo perodo.O comportamento da taxa de falhas uma combinao da probabilidade de falha e da confiabilidade e evidencia que a ocorrncia de falhas mais elevada na vida inicial do componente, diminuindo drasticamente com o tempo de vida e, a partir de um dado momento, aproxima-se de um valor constante. Em outras palavras, o comportamento da taxa de falhas evidencia que em boa parte dos componentes avaliados, apresentaram falhas prematuras, defeitos, e os componentes que no falharam, at um determinado tempo de vida, tendem a funcionar segundo as suas caractersticas de projeto. As distribuies de Weibull com o prximo de ou igual a 1 tm uma taxa de falha razoavelmente constante. Nesse caso, a taxa de falhas constante e as falhas ocorrem de forma aleatria. Esse comportamento est associado, sobretudo, s caractersticas de projeto do componente avaliado e tambm denominado vida til. Assim, a manuteno corretiva e a manuteno preventiva so as mais indicadas. Na figura 6 abaixo, encontram-se os grficos de comportamento da distribuio nestas condies com = 1 e =30..

Figura 6.

Por fim, as distribuies de Weibull com o >1 tm uma taxa de falhas que aumenta com o tempo, conhecido tambm como falhas de desgaste. Neste caso, existem modos de falhas predominantes e, nesses casos, aps efetuar-se estudos sobre os tempos mdios entre falha (MTBF) e se analisar o efeito e o modo da falha (FMEA), possvel a manuteno preventiva dos itens que esto sendo analisados. Na figura 7 abaixo, so apresentados densidade de probabilidade, a confiana e a taxa de falhas considerando-se uma distribuio Weibull biparamtrica com =4 e =30.
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Figura 7.

Analisando-se essa a densidade de probabilidade, percebe-se que grande parte da densidade de falhas concentra-se ao redor de um determinado tempo de vida. Nesse caso, T=30, e justamente esse comportamento que caracteriza as falhas predominantes. De maneira geral, ele est ligado ao desgaste natural de um determinado componente. Nesse sentido, a manuteno preditiva tem como preceito bsico o reparo na eminncia da falha. Estes betas abrangem as trs fases da "clssica curva da banheira". A distribuio Weibull mista com a uma subpopulao com o <1, uma subpopulao com o =1 e uma outra com o >1, teria um grfico de taxa de falhas que fosse idntico curva da banheira. Um exemplo de uma curva da banheira mostrado na figura 8.

Figura 8.

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3.1.2 Parmetro de Escala,

Uma variao no parmetro da escala, , tem o mesmo efeito na distribuio que uma mudana de escala na abscissa. Aumentar o valor de , mantendo constante o tem o efeito de esticar para fora da f.d.p.. Desde que a rea sob uma curva da f.d.p. um valor constante de um, o "pico" da curva da f.d.p. diminuir tambm com o aumento de , como indicado na figura genrica a seguir:

Figura 9.

I.

II.

III.

Se aumentado, enquanto e so mantidos constantes, a distribuio, ou seja a "curva" comea a se estender, esticar para direita e sua altura diminui, ao manter sua forma e posio. Se diminudo, enquanto e so mantidos constantes, a distribuio comea se estreitar para dentro, para esquerda (isto para sua origem ou para 0 ou ), e aumenta sua altura. tem a mesma unidade que T, tal como horas, milhas, ciclos, atuaes, etc

O parmetro de escala () est associado vida caracterstica de um determinado componente. Ele descreve e representa uma distncia, tempo ou ciclos transcorridos desde o incio da atividade at o momento da falha. Nesse sentido, caso no apresente defeitos, falhas prematuras, as falhas predominantes de um determinado componente, que, como abordado anteriormente, esto associadas ao desgaste do mesmo, tendem a ocorrer nas proximidades de sua vida caracterstica; ou seja, nos casos em que ocorrem falhas predominantes, as mesmas tendem a concentra-se nas proximidades do parmetro de escala. Os comportamentos descritos acima podem ser visualizados na Figura 10, onde so apresentados a densidade de probabilidade, a confiana e a taxa de falhas considerando-se uma

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ESCOLA SUPERIOR DE TECNOLOGIA EST distribuio Weibull biparamtrica mantendo-se fixo o parmetro de forma (=4) e o parmetro de escala assumiu os valores 10, 20 e 30.

Figura 10.

Olhando-se mais atentamente a equao da confiabilidade para uma distribuio de Weibull, Eq. 8, nota-se que no intervalo entre t e t0 ocorrem 63,2% das falhas, restando, portanto, 36,8% de itens sem falhar. Isto facilmente visto caso os passos abaixo sejam seguidos:

c(t ) = e
Agora, igualando-se t a t0, tem-se:

t0 t n

(Eq. 10)

c(t ) = e1

(Eq. 11)

= c(t ) 0,368 = 36,8%

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4.

Concluses

As curvas de confiabilidade e da taxa de falha trazem informaes importantes que devem subsidiar a tomada de deciso sobre o momento de se reparar em funo da boa escolha dos parmetros "t0 ", " " e " ". Isto tudo, visa que haja uma melhoraria de performance no ambiente manufatureiro, de seus produtos, na otimizao de seus recursos, na reduo dos custos por paradas inesperadas, na garantia da disponibilidade de um recurso; para melhorarem, assim, a qualidade de seus produtos e que haja a conquista um mercado ou que se crie um concorrente de igual competncia. Nesse sentido, a compreenso e a utilizao dos conceitos descritos neste trabalho mostram-se indispensveis e so condio bsica de conhecimento a todos profissionais que desejem atuar na gesto da engenharia da confiabilidade, na manuteno e nas reas relacionadas

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5.

Referncias
1. Manuel Cabral Morais, Fiabilidade e Controlo de Qualidade - Notas de apoio Fiabilidade, Seco de Estatstica e Aplicaes - IST 2. Maria Prudncia G. Martins, Armando L. F. Leito, Predio de Falhas no Apoio Deciso na Gesto da Manuteno, Departamento de Gesto Industrial ESTiG, IPB 3. MONTGOMERY, DOUGLAS C. Introduo ao Controle Estatstico da Qualidade. 4.ed. Rio de Janeiro: LTC Editora, 2004. 4. MARCELO J. et.al, A importncia da engenharia da confiabilidade e os conceitos bsicos de distribuio de weibull

5. http://www.san.uri.br/~ober/arquivos/disciplinas/tolerancia/apoio/weibull

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