Scribd
Carregar
78 visualizações11 páginas

Espectros

O documento descreve a técnica de espectroscopia de emissão óptica por centelha, que envolve a promoção de elétrons em átomos para estados excitados através de uma descarga elétrica, resultando na emissão de radiação característica quando os elétrons retornam ao estado fundamental. O equipamento, ensaios, amostras, vantagens, desvantagens e aplicações da técnica são detalhados.

Enviado por

Carla Faria
Direitos autorais
© Attribution Non-Commercial (BY-NC)
Levamos muito a sério os direitos de conteúdo. Se você suspeita que este conteúdo é seu, reivindique-o aqui.
Formatos disponíveis
Baixe no formato PPT, PDF, TXT ou leia on-line no Scribd
78 visualizações11 páginas

Espectros

O documento descreve a técnica de espectroscopia de emissão óptica por centelha, que envolve a promoção de elétrons em átomos para estados excitados através de uma descarga elétrica, resultando na emissão de radiação característica quando os elétrons retornam ao estado fundamental. O equipamento, ensaios, amostras, vantagens, desvantagens e aplicações da técnica são detalhados.

Enviado por

Carla Faria
Direitos autorais
© Attribution Non-Commercial (BY-NC)
Levamos muito a sério os direitos de conteúdo. Se você suspeita que este conteúdo é seu, reivindique-o aqui.
Formatos disponíveis
Baixe no formato PPT, PDF, TXT ou leia on-line no Scribd
Você está na página 1/ 11

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

Anlise Instrumental
MMD00013 Andra Moura Bernardes

Camila Torres Elisabete Silva

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

ESPECTROSCOPIA

O tomo constitudo por um ncleo circundado por eltrons. Todo elemento tem um nmero especfico de eltrons que esto associados a um nmero atmico, que constituem uma estrutura nica para cada elemento; Os eltrons ocupam orbitais onde h maior ou menor probabilidade de encontr-los. A energia mais baixa corresponde estrutura mais estvel, a qual chamada de estado fundamental. O estado fundamental a configurao orbital normal do tomo;
Se uma energia aplicada ao tomo, tal energia ser absorvida pelo tomo, atravs da promoo de eltrons para posies de energia superiores. Desta forma, o tomo ficar menos estvel ou seja, estar em um estado excitado;

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

ESPECTROSCOPIA
Cessada essa energia, o tomo retornar espontaneamente e rapidamente ao estado fundamental. O eltron promovido retornar sua posio inicial, estvel, e energia radiante equivalente quantidade de energia inicialmente absorvida ser emitida;

O comprimento de onda da energia radiante emitida () est diretamente relacionado transio eletrnica que ocorreu. Como cada elemento tem uma estrutura eletrnica nica, o comprimento de onda de uma radiao emitida uma propriedade nica e caracterstica de cada elemento individual.

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

Figura 1 - Transio eletrnica ocorrida no tomo.

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

EQUIPAMENTO

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

ENSAIO

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

AMOSTRAS

Produtos coquilhados; Chapas em geral; Semi-acabados e acabados; Superfcie plana e lixada.

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

VANTAGENS

Rapidez da anlise; Fcil preparao da amostra; Determinao simultnea de vrios elementos; Mtodo limpo; Vivel economicamente.

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

DESVANTAGENS

Necessidade de materiais de referncia ou padres para calibrao; Baixa preciso; Limites de deteco insuficientes para algumas aplicaes.

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

APLICAES

Identificao e anlise de metais e outros materiais condutores, quando se deseja evitar a dissoluo das amostras.

ESPECTROSCOPIA DE EMISSO PTICA POR CENTELHA

BIBLIOGRAFIA

http://www.ufpa.br/ccen/quimica/espectroscopia%20de%20emissao.htm http://hiq.aga.com.br/International/Web/LG/Br/likelgspgbr.nsf/DocByAlias/a nal_emis M. Endham, M. R. C. Denney, R. Barnes, J. Thomas, M. J. K. Vogel Anlise Qumica Quantitativa. Ed. LTC, Rio de Janeiro, 2002. D. Santos, L. V. G. Tarelho, F. J. Krug, D. M. B. P. Milor, L. M. Neto, N. D. Vieira. Espectrometria de Emisso ptica com Plasma Induzido por Laser (LIBS) -Fundamentos, Aplicaes e Perspectivas. Revista Analytica, Agosto/Setembro, N24, 2006.

Você também pode gostar