利用F2-A频率器测量晶振温度波动特性

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• 利用F2-A频率器测量晶振温度波动特性
• 频率仪FA-2USB串口通讯测试
• 晶振的工作电压特性

01 晶振温度特性

一、背景

  今天到货的频率计数器FA-2， 经过测试其测量频率的功能正常。 在前几天观察到晶振受温度与影响的时候， 由于所使用的万用表测量频率精度不够， 所以只有温度变化剧烈的时候， 才能够看到频率的变化。 下面通过FA-2频率计观察晶体受到温度的影响特性。

二、观察结果

1、手动加热

  这是一个基于MEGA8的单片机电路， 将其16MHz晶振信号引入FA-2输入端。 FA-2设置为输入1M欧姆高阻输入。 可以看到显示的数值为16MHz左右。 使用手触碰晶体， 可以看到读取的晶体振荡频率在变化。 使用酒精降温晶体， 同样会引起晶体频率变化。

2、电烙铁加热

  这里使用电烙铁加热晶振， 观察这个过程频率的变化。经过加热之后，频率变高。停止加热之后，频率降低。

三、频率变化曲线

  继续使用电烙铁加热晶体， 然后通过编程读取频率的变化。 采集加热前后的频率变化。 总共采集到25个数据。 这显示了频率受到温度引起的变化。 在温度降低过程中，频率也下降。

※ 总  结 ※

  本文利用FA-2频率器测量单片机晶振受到温度的影响。 由于FA-2的分辨率很高， 可以反映晶振对温度的敏感性。 晶体的温度特性还是可以满足普通应用。